DS1624

デジタルサーモメータおよびメモリ


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説明

The DS1624 consists of two separate functional units: a 256-byte nonvolatile E2 memory and a direct-to-digital temperature sensor.

The nonvolatile memory is made up of 256 bytes of E2 memory. This memory can be used to store any type of information the user wishes. These memory locations are accessed through the 2-wire serial bus.

The direct-to-digital temperature sensor allows the DS1624 to measure the ambient temperature and report the temperature in a 12-bit word with 0.0625°C resolution. The temperature sensor and its related registers are accessed through the 2-wire serial interface. Figure 1 in the full data sheet shows a block diagram of the DS1624.

DS1624:ブロックダイアグラム DS1624:ブロックダイアグラム 拡大表示+

主な特長

  • Reduces Component Count with Integrated Temperature Sensor and Nonvolatile E2 Memory
    • Measures Temperatures from -55°C to +125°C in 0.0625°C Increments
    • ±0.5°C Accuracy from 0°C to 70°C
    • 256 Bytes of E2 Memory for Storing Information Such as Frequency Compensation Coefficients
    • No External Components
  • Easy-to-Use 2-Wire Serial Interface
    • Temperature is Read as a 12-Bit Value (2-Byte Transfer)
  • Available in 8-Pin SO and DIP Packages
Part NumberSensor TypeFunctionsInterfaceChannelsAccuracy
(±°C)
Parasite Pwr.Temp. Resolution
(bits)
Multi DroppableOper. Temp.
(°C)
Package/PinsBudgetary
Price
See Notes
DS1624 LocalMemory2-Wire/I2C/SMBusOne0.5No12Yes-55 to +125
PDIP/8
SOIC (W)/8
$3.86 @1k
全Temperature Sensors (112)
価格についての注:
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技術資料

アプリケーションノート 5727 Understanding Multidrop Address Assignments for Thermal Sensors
チュートリアル 4679 Thermal Management Handbook
アプリケーションノート 3930 Package Thermal Resistance Values (Theta JA, Theta JC) for Temperature Sensors and 1-Wire Devices
アプリケーションノート 3272 DS1624 2線式通信のSDAホールドタイムの解説

品質および環境データ

製品の信頼性レポート: DS1624.pdf 
鉛フリーパッケージの錫(Sn)のウィスカレポート

CAD Symbols and Footprints

  • DS1624
  • DS1624+
  • DS1624S
  • DS1624S+
  • DS1624S+T&R
  • DS1624S/T&R
  • デバイス   ウェハープロセス   プロセス技術   サンプルサイズ   不合格   FIT (25°C)   FIT (55°C)  

    注: 不良率はプロセス技術ごとにまとめられ、関連する型番にマッピングされます。 不良率はテストされたユニット数に大きく依存します。

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    Status:
    Package:
    Temperature:

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