MAX1842

1A/2.7A、1MHz、ステップダウンレギュレ―タ、同期整流器および内部スイッチ付


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説明

MAX1742/MAX1842は、ノートブックやサブノートブックコンピュータに必要とされる5Vおよび3.3Vから低電圧への変換における使用に最適な、一定オフ時間、パルス幅変調(PWM)ステップダウンDC-DCコンバータです。これらの製品は同期整流機能を内蔵することにより高効率を実現し、部品点数を少なくしています。外付ショットキダイオードは不要です。内部90mΩ PMOSパワースイッチおよび70mΩ NMOS同期整流器スイッチが、最大1Aの連続負荷電流を容易に提供します。MAX1742/MAX1842は2.5V、1.8Vまたは1.5Vの固定出力電圧、あるいは可変出力(1.1V~VIN)を生成します。効率は最高95%を達成しています。

MAX1742/MAX1842は、ユニークな電流モード、一定オフ時間のPWM制御方式を採用しています。この方式は、軽負荷動作中に高効率を維持するためのIdle Mode™を含んでいます。設定可能な一定オフ時間構造は、スイッチング周波数を最大1MHzまで設定できるため、効率、出力スイッチングノイズ、部品サイズおよびコストのバランスを取って性能を最適化できます。MAX1742/MAX1842は最高1Aまでの電流を連続出力できるよう設計されています。MAX1742は1.3A (min)のピーク電流リミットを使用し、小型の外付部品サイズおよび高効率が要求されるアプリケーションに適しています。MAX1842の電流リミットは3.1A (min)とより高くなっており、最高2.7Aまでの出力電流のバーストが時折必要なアプリケーションに適しています。これらの製品のその他の特長としては、スタートアップ時のサージ電流を制限する可変ソフトスタート、低ドロップアウト動作のための100%デューティサイクルモード、入力を出力から切り離して消費電流を1µA以下に低減させる低電力シャットダウンモード等が挙げられます。MAX1742/MAX1842は、16ピンのQSOPパッケージで提供されています。

最高2Aおよび3Aまでの連続出力電流を提供する類似製品については、MAX1644およびMAX1623のデータシートを参照して下さい。
MAX1742、MAX1842:標準回路図 MAX1742、MAX1842:標準回路図 拡大表示+

主な特長

  • 出力精度:±1%
  • 効率:95%
  • 内部PMOSおよびNMOSスイッチ
    • オン抵抗:90mΩ (VIN = 4.5V)
    • オン抵抗:110mΩ (VIN = 3V)
  • 出力電圧
    • 2.5V、1.8Vまたは1.5V (ピン選択)
    • 1.1V~VIN (可変)
  • 入力電圧範囲:3V~5.5V
  • 動作消費電流:600µA (max)
  • シャットダウン消費電流:1µA以下
  • 設定可能な一定オフ時間動作
  • スイッチング周波数:1MHz (max)
  • 軽負荷ではIdle Mode動作
  • サーマルシャットダウン
  • 可変ソフトスタートで突入電流を制限
  • 低ドロップアウト動作中はデューティサイクルが100%
  • 出力短絡保護
  • パッケージ:16ピンQSOP

アプリケーション/用途

  • 5Vまたは3.3Vから低電圧への変換
  • チップセット電源
  • CPU I/Oリング
  • ノートブックおよびサブノートブックコンピュータ

スペックパラメータを参照する: Step-Down Switching Regulators (409)


Part NumberVIN
(V)
VIN
(V)
VOUT1
(V)
VOUT1
(V)
IOUT1
(A)
Switch Type
minmaxminmaxmax
MAX1742 35.51.15.51Internal
MAX1842 

価格についての注:
このページに掲載された価格は、類似製品と比較するための参考価格です。価格は米国ドルで表記されており変更されることがあります。購入数によって価格は大幅に変わることがあり、米国以外での価格は各地域の関税、税金、手数料、および為替レートによって異なることがあります。購入数やバージョンが確定されている場合の価格および在庫状況については、購入に関するページを参照いただくか正規代理店までお問い合わせください。

MAX1742EVKIT: MAX1742、MAX1842の評価キット
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デバイス   ウェハープロセス   プロセス技術   サンプルサイズ   不合格   FIT (25°C)   FIT (55°C)   Material Composition  

注: 不良率はプロセス技術ごとにまとめられ、関連する型番にマッピングされます。 不良率はテストされたユニット数に大きく依存します。

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