MAX17017

低電力アーキテクチャ用、クワッド出力コントローラ

4つの出力電圧レギュレータ用、6mm x 6mmパッケージ、高集積電圧コントローラ


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説明

MAX17017は、低電力アーキテクチャに依存するウルトラモバイルポータブルコンピュータ(UMPC)用のクワッド出力コントローラです。MAX17017は、4つの独立したレギュレータ(メイン段、3AP-Pの内蔵ステップダウン、5AP-Pの内蔵ステップダウン、および2Aのソース/シンクリニアレギュレータ)を提供することができるコンパクトで低コストのコントローラを提供します。

メインレギュレータは、ステップダウンコンバータ(2~4 Li+ (リチウムイオン)セルアプリケーション用)またはステップアップコンバータ(1 Li+セルアプリケーション用)のいずれとしても構成可能です。内蔵のスイッチングレギュレータは、1つのLi+セルから直接、またはメイン3.3V/5Vパワー段から駆動することができる5Vの同期MOSFETを備えています。最後に、リニアレギュレータは2Aをソース/シンクすることが可能で、DDRの終端要件をサポートし、または固定出力電圧を生成します。

ステップダウンコンバータは、ピーク電流モード、固定周波数制御方式を採用しており、高速過渡応答を犠牲にしないアーキテクチャの実装を容易にします。また、このアーキテクチャはピーク電流制限保護およびパルススキップ動作をサポートしており、軽負荷時で高効率を維持します。

個別のイネーブル入力および独立したオープンドレインパワーグッド出力によって、柔軟な電源シーケンスが可能です。ソフトスタート機能が出力電圧を徐々にランプアップさせ、突入電流を低減します。ディセーブルされたレギュレータは、ハイインピーダンス状態に移行し、ローサイドMOSFETから出力を急速放電することによって発生する負の出力電圧を回避します。また、MAX17017は出力の低電圧/過電圧、および過熱フォルト保護を備えています。

MAX17017は、6mm x 6mmの48ピンTQFNパッケージで提供されます。
MAX17017:標準アプリケーション回路 MAX17017:標準アプリケーション回路 拡大表示+

主な特長

  • 固定周波数、電流モードコントローラ
  • 入力範囲:5.5V~28V (ステップダウン)または3V~5V (ステップアップ)
  • 1つのステップアップまたはステップダウンコントローラ
  • 1つの内蔵5AP-Pステップダウンレギュレータ
  • 1つの内蔵3AP-Pステップダウンレギュレータ
  • ダイナミックREFINを備えた、1つの2Aソース/シンクリニアレギュレータ
  • BSTダイオード内蔵
  • 5V、50mAリニアレギュレータ内蔵
  • フォルト保護:低電圧、過電圧、過熱、ピーク電流制限
  • 独立したイネーブル入力およびパワーグッド出力
  • 電圧制御ソフトスタート
  • ハイインピーダンスシャットダウン
  • シャットダウン電流:10µA (typ)

アプリケーション/用途

  • 1:4 Li+ (リチウムイオン)セルバッテリ駆動デバイス
  • 低電力アーキテクチャ
  • ノートブックおよびサブノートブックコンピュータ
  • PDAおよびモバイル通信
  • 携帯ゲーム機
  • ウルトラモバイルPC (UMPC)

スペックパラメータを参照する: Step-Down Switching Regulators (409)


Part NumberVIN
(V)
VIN
(V)
VOUT1
(V)
IOUT1
(A)
(min)(max)(min)(max)
MAX17017 5.5280.755

価格についての注:
このページに掲載された価格は、類似製品と比較するための参考価格です。価格は米国ドルで表記されており変更されることがあります。購入数によって価格は大幅に変わることがあり、米国以外での価格は各地域の関税、税金、手数料、および為替レートによって異なることがあります。購入数やバージョンが確定されている場合の価格および在庫状況については、購入に関するページを参照いただくか正規代理店までお問い合わせください。

技術資料

チュートリアル 5133 Altera FPGA向け電源ソリューション
チュートリアル 5132 Xilinx FPGA向け電源ソリューション
製品の信頼性レポート: MAX17017.pdf 
デバイス   ウェハープロセス   プロセス技術   サンプルサイズ   不合格   FIT (25°C)   FIT (55°C)   Material Composition  

注: 不良率はプロセス技術ごとにまとめられ、関連する型番にマッピングされます。 不良率はテストされたユニット数に大きく依存します。

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