MAX15046, MAX15046A, MAX15046B

40V、高性能、同期バックコントローラ

1MHzで動作する40V産業用コントローラ


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説明

同期ステップダウンコントローラのMAX15046は、4.5V~40Vの入力電圧範囲で動作し、最大25Aの負荷に対応しつつ、入力電圧の85%から最低0.6Vまでで可変の出力電圧を生成します。このデバイスは、出力を放電せずに、プリバイアスされたバスまでの単調性起動が可能で、適応型内蔵デジタルソフトスタートを備えています。

MAX15046は、外付け抵抗によって、100kHz~1MHzのスイッチング周波数を調整することができます。MAX15046の適応型同期整流によって、外付けのフリーホイールショットキーダイオードが不要です。また、このデバイスは、外付けのローサイドMOSFETのオン抵抗を電流検出素子として利用するため、電流検出抵抗も不要です。このため、電流検出抵抗を必要とせずに、DC-DC部品を出力過負荷状態または出力短絡フォルト時の損傷から保護します。ヒカップモード電流制限は、短絡状態時の電力損失を低減します。MAX15046は、高精度ターンオン/ターンオフスレッショルドを備えた、1つのパワーグッド出力と1つのイネーブル入力を備え、入力電源監視と電源シーケンスに使用することができます。

その他の保護機能として、シンクモード電流制限とサーマルシャットダウンも備えています。シンクモード電流制限は、デバイスが出力から電流をシンクするときに、逆インダクタ電流が危険レベルに達するのを防止します。

MAX15046A/MAX15046Bは、ソフトストップ動作を特長としています。ソフトストップ動作はMAX15046Cにはありません。

MAX15046は16ピンQSOPまたは16ピンQSOP-EPパッケージで提供され、-40℃~+125℃の温度範囲で動作します。
MAX15046:標準動作回路 MAX15046:標準動作回路 拡大表示+

主な特長

  • 入力電圧範囲:4.5V~40Vまたは5V ±10%
  • 調整可能な出力:0.85 x VIN~0.6V
  • 調整可能なスイッチング周波数(100kHz~1MHz)、±10% (1MHz)の精度
  • 適応型内蔵デジタルソフトスタート
  • 出力性能:25A (max)
  • 調整可能な温度補償スレッショルド(30mV~300mV)内蔵、サイクルごとの谷モード電流制限
  • プリバイアス出力までの単調性起動
  • 電圧リファレンス精度:±1%
  • 最大デューティサイクル:90% (MAX15046C)
  • 3Aピークゲートドライバ
  • ヒカップモード短絡保護
  • 過熱シャットダウン
  • ±5%精度のスレッショルドを備えたパワーグッド(PGOOD)出力およびイネーブル入力(EN)
  • 放熱特性を高めた16ピンQSOPパッケージ

アプリケーション/用途

  • 基地局
  • 産業用電源(PLC、産業コンピュータ、フィールドバスコンポーネント、フィールドバス結合器)
  • テレコム電源
Part NumberVIN
(V)
VIN
(V)
VOUT1
(V)
VOUT1
(V)
Output Adjust. MethodIOUT1
(A)
Switch TypeSynchronous SwitchingPower Good SignalDC-DC OutputsOper. Freq.
(kHz)
Design ToolsPackage/PinsBudgetary
Price
minmaxminmaxSee Notes
MAX15046 4.5400.636Resistor25ExternalYesYes11000EE-Sim
QSOP/16
$1.51 @1k
全Step-Down Switching Regulators (358)
価格についての注:
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MAX15046BEVKIT: MAX15046Bの評価キット

ツールおよびモデル

  • EE-Sim: MAX15046設計およびシミュレーション
  • MAX15046 SIMPLIS Schematic
  • CAD Symbols and Footprints

  • MAX15046AAEE+
  • MAX15046AAEE+T
  • MAX15046BAEE+
  • MAX15046BAEE+CHH
  • MAX15046BAEE+T
  • MAX15046BAEE+TCHH
  • MAX15046CAEE+
  • MAX15046CAEE+T
  • デバイス   ウェハープロセス   プロセス技術   サンプルサイズ   不合格   FIT (25°C)   FIT (55°C)  

    注: 不良率はプロセス技術ごとにまとめられ、関連する型番にマッピングされます。 不良率はテストされたユニット数に大きく依存します。

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