MAX807L, MAX807M, MAX807N

リセット精度±1.5%、フル機能µP監視回路


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説明

MAX807は、µPシステムの電源およびバッテリ制御機能を監視するために必要となる部品の複雑さと部品点数を低減するマイクロプロセッサ(µP)監視回路です。MAX807は消費電流が僅か70µAのためポータブル機器に最適です。また、チップイネーブル伝播遅延が2ns、出力電流が250mA (バッテリバックアップモードで20mA)であるため、大型の高性能機器にも適しています。

MAX807は16ピンDIP、SO、およびTSSOPパッケージで供給され、下記の機能を提供します。
  • µPリセット。アクティブローRESET出力はパワーアップ、パワーダウンおよび電圧低下時に発生し、VCCが1Vに下がるまで正しい状態に留まることが保証されています。
  • アクティブハイRESET出力。
  • マニュアルリセット入力。
  • 2段パワーフェイル警報。独立したローラインコンパレータがVCCをリセットスレッショルドより52mV高いスレッショルド電圧と比較します。このローラインコンパレータは今までのµP監視回路に備えられていたものよりも正確です。
  • CMOS RAM、リアルタイムクロック、µPまたはその他のローパワーロジック用のバックアップバッテリ切換え。
  • CMOS RAMまたはEEPROMの書込保護。
  • 2.275Vスレッショルド検出器。パワーフェイル警報およびローバッテリ検出、あるいは+5V以外の電源の監視に使用します。
  • BATT OK状態フラグ。バックアップバッテリ電圧が+2.275V以上であることを知らせます。
  • ウォッチドッグ障害出力。ウォッチドッグ入力が、予め設定されたタイムアウト時間内にトグルされなかったときに発生します。
MAX807L、MAX807M、MAX807N:標準動作回路 MAX807L、MAX807M、MAX807N:標準動作回路 拡大表示+

主な特長

  • 4.675V (MAX807L)、4.425V (MAX807M)または4.575V (MAX807N)の高精度電圧監視
  • パワーOK/リセットのタイムディレー:200ms
  • /RESETおよびRESET出力
  • 独立したウォッチドッグタイマ
  • スタンバイ電流:1µA
  • パワースイッチング:
    • 250mA (VCCモード)
    • 20mA (バッテリバックアップモード)
  • チップイネーブル信号のゲートを内蔵
    • CEゲートの伝播遅延:2ns
  • MaxCap®およびSuperCapとコンパチブル
  • パワーフェイル用電圧モニタ
  • バックアップバッテリモニタ
  • VCC = 1VまでのアクティブローRESET保証
  • リセットスレッショルドの52mV上に精度±1.5%のローラインスレッショルド

アプリケーション/用途

  • コンピュータ:デスクトップ、ワークステーション、サーバ
  • コントローラ
  • クリティカルなµP監視
  • インテリジェント機器
  • ポータブルバッテリ駆動機器

スペックパラメータを参照する: Battery Backup Circuits (80)


Part NumberReset Thresh.
(V)
Reset OutICC
(µA)
Oper. Temp.
(°C)
Package/PinsBudgetary
Price
maxSee Notes
MAX807 
4.0 to 4.5
4.5 to 5.0
Active High
Active Low
Push-Pull
110
-55 to +125
-40 to +85
0 to +70
PDIP/16
SOIC (W)/16
TSSOP/16
$3.49 @1k

価格についての注:
このページに掲載された価格は、類似製品と比較するための参考価格です。価格は米国ドルで表記されており変更されることがあります。購入数によって価格は大幅に変わることがあり、米国以外での価格は各地域の関税、税金、手数料、および為替レートによって異なることがあります。購入数やバージョンが確定されている場合の価格および在庫状況については、購入に関するページを参照いただくか正規代理店までお問い合わせください。
製品の信頼性レポート: MAX807N.pdf 
信頼性レポートをリクエスト: MAX807L  MAX807M 
デバイス   ウェハープロセス   プロセス技術   サンプルサイズ   不合格   FIT (25°C)   FIT (55°C)   Material Composition  

注: 不良率はプロセス技術ごとにまとめられ、関連する型番にマッピングされます。 不良率はテストされたユニット数に大きく依存します。

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