MAX16140

nanoPower、小型監視回路、マニュアルリセット入力付き

ナノパワー、小型監視回路、マニュアルリセット入力付き


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説明

MAX16140/MAX16142/MAX16144/MAX16146/ MAX16156/MAX16157/MAX16158/MAX16159は、超低電流、1チャネル監視回路ICで、1.7V~4.85V (約50mVインクリメント)のVCC電圧を監視し、VCC電圧がリセットスレッショルドを下回るとリセットをアサートします。リセット出力は、VCC電圧が出荷時設定されたVCC_TH + VHYSを上回ったあとリセットタイムアウト時間にわたってアサートされたままになります。利用可能なリセットタイムアウトのオプションについては、データシートの「Selector Guide (選択ガイド)」を参照してください。

MAX16140/MAX16142/MAX16144/MAX16146/ MAX16156/MAX16157/MAX16158/MAX16159は、出荷時設定可能なマニュアルリセット入力(MR)を内蔵しており、立上りエッジ、立下りエッジ、アクティブロー、またはアクティブハイ入力信号を受信するとリセットをアサートするように設定することができます。MAX16140/MAX16144/MAX16156/MAX16157はオープンドレインのリセット出力を備え、MAX16142/ MAX16146/MAX16158/MAX16159はプッシュプルのリセット出力を備えています。リセット出力の構成については、データシートの「Selector Guide (選択ガイド)」を参照してください。

全デバイスは-40℃~+125℃の温度範囲にわたって動作が保証されています。MAX16140/MAX16142/ MAX16156/MAX16158は、小型4ピンWLP (0.73mm x 0.73mm x 0.5mm)で提供されます。MAX16144/ MAX16146/MAX16157/MAX16159は5ピンSOT23パッケージで提供されます。

MAX16140:簡易ブロックダイアグラム MAX16140:簡易ブロックダイアグラム 拡大表示+

主な特長

  • 自己消費電流:370nA、バッテリ寿命を延長
  • エッジ/レベルトリガMR入力
  • 出荷時設定リセットタイムアウト時間
  • MRデバウンス回路
  • 出荷時設定スレッショルド:1.7V~4.85V
  • WLPおよびSOT23パッケージ
  • 温度範囲:-40℃~+125℃

アプリケーション/用途

  • チャージャ
  • 電子書籍リーダー/タブレット
  • ポータブル/バッテリ駆動機器
  • スマートフォン
  • ウェアラブル/ポータブルアクセサリ
Part NumberReset Thresh.
(V)
Reset OuttRESETWatchdog FeatureSupervisor FeaturesReset Thresh. Accur.
(%)
ICC
(µA)
Package/PinsBudgetary
Price
min@ +25°CmaxSee Notes
MAX16140 
1.2 to 1.8
1.8 to 2.5
2.5 to 3.3
3.3 to 5.5
Active High
Active Low
Open Drain
1ms to 15ms
15ms to 85ms
85ms to 300ms
250ms to 450ms
300ms to 1s
<1ms
>1s
No Watchdog
Adjustable Reset Input
Manual Reset
1.51.2
SOT23/5
THIN WLP/4
$0.70 @1k
全Supervisors (1 Monitored Voltage) (256)
価格についての注:
このページに掲載された価格は、類似製品と比較するための参考価格です。価格は米国ドルで表記されており変更されることがあります。購入数によって価格は大幅に変わることがあり、米国以外での価格は各地域の関税、税金、手数料、および為替レートによって異なることがあります。購入数やバージョンが確定されている場合の価格および在庫状況については、購入に関するページを参照いただくか正規代理店までお問い合わせください。

品質および環境データ

信頼性レポートをリクエスト: MAX16140 
鉛フリーパッケージの錫(Sn)のウィスカレポート

その他リソース

電圧監視回路ICの高周波ノイズ除去
デバイス   ウェハープロセス   プロセス技術   サンプルサイズ   不合格   FIT (25°C)   FIT (55°C)  

注: 不良率はプロセス技術ごとにまとめられ、関連する型番にマッピングされます。 不良率はテストされたユニット数に大きく依存します。

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