MAX16047A

不揮発性フォルトレジスタ内蔵、12チャネル/8チャネルEEPROMプログラマブルシステムマネージャ

NVフォルト監視内蔵、超高集積、12チャネル/8チャネルシステムマネージメントIC


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説明

EEPROM設定可能なシステムマネージャのMAX16047A/MAX16049Aは、複数のシステム電圧の監視、シーケンス、およびトラッキングを提供します。MAX16047Aは、最大12のシステム電圧を同時に管理し、MAX16049Aは、最大8つの電源電圧を管理します。これらのデバイスは、電源電圧の監視用の1つのアナログ-ディジタルコンバータ(ADC)、および電源シーケンスとトラッキング(パワーアップおよびパワーダウン時)用に設定可能な複数の出力を内蔵しています。電圧の上限および下限値の格納、タイミングおよびシーケンス要件の設定、および障害後のリードバック用の重要なフォルトデータの格納を行うために、不揮発性EEPROMレジスタを設定することができます。

内蔵の1%精度10ビットADCは、各入力を測定し、その結果を上限値、下限値、および選択可能な上限または下限値と比較します。フォルト信号は、監視対象の電圧が設定された限界値外になるとアサートします。さまざまなフォルト条件の下でアサートするために、最大3つの独立したフォルト出力信号を設定することができます。

内蔵のシーケンサ/トラッカによって、最大12チャネル(MAX16047A)または最大8チャネル(MAX16049A)の電源のパワーアップおよびパワーダウン順序を高精度で制御することができます。4つのチャネル(EN_OUT1~EN_OUT4)は、外付けの直列MOSFETを使用した閉ループトラッキングをサポートします。閉ループトラッキングなしでMOSFETを直接駆動するために、6つの出力(EN_OUT1~EN_OUT6)をチャージポンプ出力とともに設定することができます。

MAX16047A/MAX16049Aは、6つのプログラマブルな汎用入力/出力(GPIO)を備えています。EEPROM設定可能なI/O端子としての動作に加え、GPIOは、専用フォルト出力として、ウォッチドッグ入力または出力(WDI/WDO)として、またはマニュアルリセット(アクティブローMR)としても設定可能です。

MAX16047A/MAX16049Aは、重要なフォルトイベント時に情報を記録するために2つの方法のフォルト管理を備えています。このフォルトロガーは、内蔵EEPROMにおける障害を記録し、格納されたフォルトデータを偶発的な消去から保護するロックビットを設定します。

I²C/SMBus™対応またはJTAGシリアルインタフェースによって、MAX16047A/MAX16049Aを設定します。これらのデバイスは、8mm x 8mmの56ピンTQFNパッケージで提供され、-40℃~+125℃の全温度範囲での動作が保証されています。
MAX16047A、MAX16049A:標準動作回路 MAX16047A、MAX16049A:標準動作回路 拡大表示+

主な特長

  • 動作電圧:3V~14V
  • 1%精度10ビットADCによって、12/8チャネルの入力を監視
  • 12/8チャネルの監視対象の入力:1種の過電圧/1種の低電圧/1種の選択可能な限界値
  • 不揮発性フォルトイベントロガー
  • パワーアップおよびパワーダウンシーケンス機能
  • シーケンス/パワーグッドインジケータ用の12/8チャネルの出力
  • 最大4つのチャネルに対する閉ループトラッキング
  • 2つのプログラマブルフォルト出力と1つのリセット出力
  • 6つの汎用入力/出力設定:
    • 専用フォルト出力
    • ウォッチドッグタイマ機能
    • マニュアルリセット
  • I²C/SMBus対応およびJTAGインタフェース
  • EEPROM設定可能な時間遅延とスレッショルド
  • 100バイトの内蔵ユーザーEEPROM
  • 8mm x 8mmの56ピンTQFNパッケージ
  • 動作温度範囲:-40℃~+125℃

アプリケーション/用途

  • ネットワーキング/テレコム
  • サーバ
  • ストレージシステム
  • ワークステーション

品質および環境データ

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鉛フリーパッケージの錫(Sn)のウィスカレポート

CAD Symbols and Footprints

  • MAX16047ATN+
  • MAX16047ATN+T
  • デバイス   ウェハープロセス   プロセス技術   サンプルサイズ   不合格   FIT (25°C)   FIT (55°C)  

    注: 不良率はプロセス技術ごとにまとめられ、関連する型番にマッピングされます。 不良率はテストされたユニット数に大きく依存します。

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