MAX16046

不揮発性フォルトレジスタ付き、12/8チャネルEEPROMプログラマブルシステムマネージャ

NVフォルト監視付き、超高集積、12/8チャネルシステムマネージメントIC


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説明

EEPROM設定可能なシステムマネージャのMAX16046/MAX16048は、複数のシステム電圧の監視、シーケンス、トラッキング、マージン変化を提供します。MAX16046は、最大12のシステム電圧を同時に管理し、MAX16048は、最大8つの電源電圧を管理します。これらのデバイスは、電源電圧の監視用の1つのアナログ-デジタルコンバータ(ADC)、電源電圧の調整用の複数のデジタル-アナログコンバータ(DAC)、および(パワーアップとパワーダウン時の)電源のシーケンスとトラッキング用の設定可能な複数出力を集積化しています。電圧の上限および下限値の格納、タイミングおよびシーケンス要件の設定、および障害後のリードバックに重要な障害データの格納を行うために、不揮発性EEPROMレジスタを設定することができます。

内蔵の1%精度10ビットADCは、各入力を測定し、その結果を上限値、下限値、および選択可能な上限または下限値と比較します。フォルト信号は、監視対象の電圧が設定された限界値外になったときにアサートします。さまざまなフォルト状態の下でアサートするために、最大3つの独立したフォルト出力信号を設定することができます。

内蔵シーケンサ/トラッカによって、最大12 (MAX16046)または最大8 (MAX16048)の電源のパワーアップおよびパワーダウン順序を高精度で制御することができます。4つのチャネル(EN_OUT1~EN_OUT4)は、外付けの直列MOSFETを使用した閉ループトラッキングをサポートします。閉ループトラッキングなしでMOSFETを直接駆動するために、6つの出力(EN_OUT1~EN_OUT6)をチャージポンプ出力とともに設定することができます。

MAX16046/MAX16048は、POL (ポイントオブロード)モジュールのトリム入力に接続されたときに電源をマージン変化させるために、12/8つの8ビットDAC出力を内蔵しています。

MAX16046/MAX16048は、6つのプログラマブルな汎用入力/出力(GPIO)を備えています。GPIOは、専用フォルト出力として、ウォッチドッグ入力または出力(WDI/WDO)として、マニュアルリセット(アクティブローMR)、またはマージン変化制御入力用にEEPROM設定可能です。

MAX16046/MAX16048は、システムシャットダウンイベント時に情報を記録するために、2つの方法のフォルト管理を備えています。このフォルトロガーは、内蔵EEPROMにおける障害を記録し、格納されたフォルトデータを偶発的な消去から保護するロックビットを設定します。

I²CまたはJTAGシリアルインタフェースによって、MAX16046/MAX16048を設定します。これらのデバイスは、8mm x 8mmの56ピンTQFNパッケージまたは10mm x 10mmの64ピンTQFPパッケージで提供され、-40℃~+85℃の温度範囲での動作が保証されています。
MAX16046、MAX16048:標準動作回路 MAX16046、MAX16048:標準動作回路 拡大表示+

主な特長

  • 動作電圧:3V~14V
  • 1%精度10ビットADCによって、12/8つの入力を監視
  • 12/8つの監視入力:1種の過電圧/1種の低電圧/1種の選択可能な限界値
  • 12/8つの8ビットDAC出力によって、マージン変化または電圧調整
  • 不揮発性フォルトイベントロガー
  • パワーアップおよびパワーダウンシーケンス機能
  • シーケンス/パワーグッドインジケータ用の12/8つの出力
  • 最大4つのチャネルに対する閉ループトラッキング
  • 2つのプログラマブルフォルト出力と1個のリセット出力
  • 6つの汎用入力/出力設定:
    • 専用フォルト出力
    • ウォッチドッグタイマ機能
    • マニュアルリセット
    • マージン変化イネーブル入力
  • I2C (タイムアウト付き)およびJTAGインタフェース
  • EEPROM設定可能な時間遅延、スレッショルド、およびDAC出力
  • 100バイトの内蔵ユーザEEPROM
  • 動作温度範囲:-40℃~+85℃

アプリケーション/用途

  • ネットワーキング/テレコム
  • サーバ
  • ストレージシステム
  • ワークステーション

MAX16046EVKIT: MAX16046の評価キット

ツールおよびモデル

  • MAX16046 TQFP BSDLモデル
  • デバイス   ウェハープロセス   プロセス技術   サンプルサイズ   不合格   FIT (25°C)   FIT (55°C)  

    注: 不良率はプロセス技術ごとにまとめられ、関連する型番にマッピングされます。 不良率はテストされたユニット数に大きく依存します。

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