MAX16020

バッテリバックアップ回路およびチップイネーブルゲートを備えた、低電力µP監視回路

チップイネーブルゲートおよび電源監視を備えた、業界で最も進んだバッテリバックアップ監視回路


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説明

監視回路のMAX16016/MAX16020/MAX16021は、マイクロプロセッサ(µP)ベースのシステムにおいて、電源を監視し、バッテリバックアップ制御、および書込み保護メモリへのチップイネーブル(CE)ゲートを提供します。これらの低電力デバイスは、小型の単一高集積ソリューションに複数の監視機能を統合することによって、システムの信頼性を向上させます。

MAX16016/MAX16020/MAX16021は、次のような4つの基本システム機能を実行します。
  1. VCC電源のパワーアップ、パワーダウン、およびブラウンアウト状態時に、µPリセット出力を提供
  2. メイン電源が除去された場合に、メモリ、リアルタイムクロック(RTC)、およびその他のデジタルロジックのデータまたは低電力動作を維持するために、内部でVCCからバッテリバックアップへの切替えを制御
  3. ブラウンアウト時に内部チップイネーブルゲートを通じてメモリ書込み保護を提供
  4. 追加の監視機能の組合せ(フルデータシートの「Features (特長)」の項に記載)を提供
MAX16016/MAX16020/MAX16021は、1.53V~5.5Vの電源電圧で動作し、5V、3.3V、3V、2.5V、および1.8Vシステムを監視するための固定リセットスレッショルドを提供します。各デバイスは、プッシュプルまたはオープンドレインリセット出力のいずれかで提供されます。

MAX16016/MAX16020/MAX16021は、小型TDFN/TQFNパッケージで提供され、-40℃~+85℃の動作温度が完全保証されています。
MAX16016、MAX16020、MAX16021:標準アプリケーション回路 MAX16016、MAX16020、MAX16021:標準アプリケーション回路 拡大表示+

主な特長

  • システム監視の対象電源電圧:5V、3.3V、3V、2.5V、または1.8V
  • 動作電圧範囲:1.53V~5.5V
  • 低消費電流:1.2µA (バッテリバックアップモードでは0.25µA)
  • リセットタイムアウト期間:145ms (min)
  • バッテリフレッシュネスシール
  • CE信号を内部でゲート、1.5nsの伝搬遅延(MAX16020/MAX16021)
  • デバウンスされたマニュアルリセット入力
  • ウォッチドッグタイマのタイムアウト:1.2秒 (typ)
  • 最低0.6Vまで電圧を監視するパワーフェイルコンパレータおよび低ラインインジケータ
  • インジケータ:バッテリオン、バッテリOK、およびバッテリテスト
  • 小型10ピンTDFNパッケージまたは16ピンTQFNパッケージ

アプリケーション/用途

  • GPSシステム
  • 産業用制御
  • RTC、CMOSメモリ用、メイン/バックアップ電源
  • POS端末
  • ポータブル/バッテリ機器
  • セットトップボックス
Part NumberReset Thresh.
(V)
Reset OutICC
(µA)
Oper. Temp.
(°C)
Package/PinsBudgetary
Price
maxSee Notes
MAX16016 
1.2 to 1.8
1.8 to 2.5
2.5 to 3.3
3.3 to 5.5
Active Low
Open Drain
Push-Pull
5-40 to +85
TDFN/10
$3.23 @1k
MAX16020 
Active Low
Open Drain
Push-Pull
TQFN/16
$3.16 @1k
MAX16021 
Active High
Active Low
Open Drain
Push-Pull
TQFN/16
$3.23 @1k
全Battery Backup Circuits (81)
価格についての注:
このページに掲載された価格は、類似製品と比較するための参考価格です。価格は米国ドルで表記されており変更されることがあります。購入数によって価格は大幅に変わることがあり、米国以外での価格は各地域の関税、税金、手数料、および為替レートによって異なることがあります。購入数やバージョンが確定されている場合の価格および在庫状況については、購入に関するページを参照いただくか正規代理店までお問い合わせください。

品質および環境データ

製品の信頼性レポート: MAX16020.pdf 
鉛フリーパッケージの錫(Sn)のウィスカレポート
デバイス   ウェハープロセス   プロセス技術   サンプルサイズ   不合格   FIT (25°C)   FIT (55°C)  

注: 不良率はプロセス技術ごとにまとめられ、関連する型番にマッピングされます。 不良率はテストされたユニット数に大きく依存します。

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