DS1236A

MicroManagerチップ


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説明

The DS1236A MicroManager Chip provides all the necessary functions for power supply monitoring, reset control, and memory backup in microprocessor-based systems. A precise internal voltage reference and comparator circuit monitor power supply status. When an out-of-tolerance condition occurs, the microprocessor reset and power-fail outputs are forced active, and static RAM control unconditionally write protects external memory. The DS1236A also provides early warning detection of a user-defined threshold by driving a non-maskable interrupt. External reset control is provided by a pushbutton reset input which is debounced and activates reset outputs. An internal watchdog timer can also force the reset outputs to the active state if the strobe input is not driven low prior to watchdog timeout. Reset control and wake-up/sleep control inputs also provide the necessary signals for orderly shutdown and start-up in battery backup and battery operated applications.

主な特長

  • Holds microprocessor in check during power transients
  • Halts and restarts an out-of-control microprocessor
  • Monitors pushbutton for external override
  • Warns microprocessor of an impending power failure
  • Converts CMOS SRAM into nonvolatile memory
  • Unconditionally write protects memory when power supply is out of tolerance
  • Consumes less than 100 nA of battery current at 25°C
  • Controls external power switch for high current applications
  • Accurate 10% power supply monitoring
  • Optional 5% power supply monitoring designated DS1236A-5
  • Provides orderly shutdown in nonvolatile microprocessor applications
  • Supplies necessary control for low-power "stop mode" in battery operated hand-held applications
  • Standard 16-pin DIP or space-saving 16-pin SOIC
  • Optional industrial temperature range -40°C to +85°C
  • Freshness Seal on Battery Attachment

品質および環境データ

信頼性レポートをリクエスト: DS1236A 
鉛フリーパッケージの錫(Sn)のウィスカレポート
デバイス   ウェハープロセス   プロセス技術   サンプルサイズ   不合格   FIT (25°C)   FIT (55°C)  

注: 不良率はプロセス技術ごとにまとめられ、関連する型番にマッピングされます。 不良率はテストされたユニット数に大きく依存します。

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