MAX16969

500mA~3A車載ハイスピードUSBプロテクタ、Apple iPod急速充電検出およびUSBホストチャージャポート検出

AppleおよびUSBホストチャージャ検出を備えた、全機能内蔵車載グレードUSBプロテクタ


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説明

MAX16969は、車載ラジオ、ナビゲーション、接続性、およびUSBハブアプリケーションにおける低電圧の内蔵USBデータおよびUSB電源ラインに対する高ESDおよび短絡保護を提供します。このデバイスは、ハイスピードUSB (480Mbps)とフルスピードUSB (12Mbps)動作の両方に対応しています。さらに、このデバイスは、Apple方式やハイスピードUSBホストチャージャポート検出プロトコルに従う民生デバイス用の急速充電をイネーブルする回路も内蔵しています。

短絡保護機能は、保護対象のHVBUS、HVD+、およびHVD-出力に対するバッテリへの短絡保護、および保護対象HVD+とHVD-出力に対するHVBUSへの短絡保護を特長とします。このデバイスは、最大+18Vのバッテリへの短絡状態に対応可能です。また、HVBUS出力に対するGNDへの短絡保護および過電流保護も、内蔵のBUS電源レールを過電流フォルトから保護するために提供されています。

このデバイスは、すべての保護対象のHVBUS、HVD+、およびHVD-出力に対して±15kVエアギャップ放電および±8kV接触放電の高ESD保護を備えています。

このデバイスは、2つの4.0Ω低オン抵抗ハイスピードUSBスイッチ、および電流制限付き低電圧22mΩ BUSスイッチを備えており、また高電圧外付けパワースイッチコントローラも提供します。BUSスイッチは、大容量非準拠USB負荷に対して起動することができます。また、このデバイスは、イネーブル入力、フォルト出力、Apple iPod®/iPhone®急速充電終端抵抗、およびUSB 2.0バッテリ充電仕様に従うホストチャージャポート検出回路も内蔵しています。

このデバイスは、16ピンQSOPパッケージで提供され、-40℃~+105℃の温度範囲で動作します。

主な特長

  • 2つの4.0Ω (typ) RON USB 2.0データスイッチ
  • 高容量負荷能力を備えた電流制限付き22mΩ (typ) BUSスイッチ
  • USB 2.0動作:480Mbpsまたは12Mbps
  • 保護対象のHVBUS出力に対するバッテリへの短絡およびGNDへの短絡保護
  • 保護対象のHVD+およびHVD-出力に対するバッテリへの短絡およびHVBUSへの短絡保護
  • フォルトブランキングのタイムアウト時間:20ms
  • 過電流および短絡時のオートリトライ内蔵
  • Apple iPod急速充電終端抵抗内蔵
  • USBホストチャージャポート検出回路内蔵
  • 高ESD保護(HVD+、HVD-、HVBUS)
    • ±15kVヒューマンボディモデル
    • ±15kV IEC 61000-4-2エアギャップ放電
    • ±8kV IEC 61000-4-2接触放電
  • 16ピンQSOPパッケージ(3.90mm x 4.94mm)
  • 動作温度範囲:-40℃~+105℃
  • AEC-Q100認定

アプリケーション/用途

  • 車載USB保護
  • Apple準拠デバイス用急速充電

スペックパラメータを参照する: Current Limit and USB Power Switches (80)


Part NumberUSBPower SwitchesData SwitchesCurrent Limit
(mA)
Current Limit
(mA)
Fault IndicatorCurrent Limit Accuracy
(%)
Current Limit Set ByLowest Adj. Setting
(A)
RON
(Ω)
VSUPPLY
(V)
VSUPPLY
(V)
Supported Charging ConfigurationsOper. Temp.
(°C)
Package/PinsBudgetary
Price
(min)(max)(typ)(min)(max)(See Notes)
MAX16969 Yes115003000Yes20Resistor0.670.0224.755.25
BC1.1
iPod/iPhone
-40 to +105
QSOP/16
$2.17 @1k

価格についての注:
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デバイス   ウェハープロセス   プロセス技術   サンプルサイズ   不合格   FIT (25°C)   FIT (55°C)   Material Composition  

注: 不良率はプロセス技術ごとにまとめられ、関連する型番にマッピングされます。 不良率はテストされたユニット数に大きく依存します。

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