MAX14737

高精度、超高速、低消費電流、双方向過電圧プロテクタ

バッテリ駆動ポータブル機器で最初のバッテリノード保護用OVP


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説明

過電圧保護(OVP)デバイスのMAX14736/MAX14737は、ポータブル機器のバッテリ駆動モジュールを過電圧フォルトから保護します。これらのデバイスは、15mΩ (typ)の低オン抵抗および13µA (typ)の低自己消費電流によって消費電力を最小限に抑えるため、低電力システムに最適な選択です。また、これらのデバイスは、高精度過電圧ロックアウト(OVLO)スレッショルド、超高速応答時間、および最大±35Vのサージサプレッション機能を備えているため、高スルーレート、高電圧過渡に対しても優れた保護を提供することができます。

これらのデバイスの内蔵パワートランジスタは、pチャネルデバイスですが、OUT-IN間の固有ボディダイオードは適切な設計技術を使用して取り外されています。したがって、スイッチがオフ状態のときは、これらのデバイスに特有の逆電流から保護されます。MAX14736/MAX14737は、プッシュプルPOK出力を備え、過電圧、低電圧、サーマルフォルトのいずれかが検出された場合や、デバイスがシャットダウンモードに入った場合、このプッシュプルPOK出力をローにします。

MAX14736のイネーブル端子(EN)はアクティブローであるのに対し、MAX14737のイネーブル端子(EN)はアクティブハイです。

イネーブル端子をアクティブ状態にした場合、デバイスはイネーブルされます。非アクティブ状態にした場合、デバイスは低電力シャットダウンモードに入り、スイッチはオフ状態に保たれます。

MAX14736/MAX14737は、小型9ピンウェハレベルパッケージ(WLP) (1.34mm x 1.36mm)で提供され、-40℃~+85℃の拡張温度範囲で動作します。
MAX14736、MAX14737:ファンクションダイアグラム MAX14736、MAX14737:ファンクションダイアグラム 拡大表示+

主な特長

  • 最小限の消費電力でバッテリ接続モジュールを保護
    • 広動作入力電圧:+2.1V~+5.5V
    • 連続電流性能:4.5A
    • pFET内蔵:15mΩ (typ)
    • 超低消費電流:13µA (typ)
  • OVLO実装の高精度な設計が可能
    • プリセットされた内部高精度OVPスレッショルド
    • MAX14736:4.7V ±2.0%
    • MAX14737:5.2V ±2.0%
  • プレミアムセキュリティによってシステムの信頼性を向上
    • サージ耐性:最大±35V
    • ソフトスタートによって突入電流を最小化
    • 出力ホットプラグイン保護
    • サーマルシャットダウン
    • 超高速OVP応答時間:200ns (typ)
  • 小型WLPによって基板スペースを最小化
    • 9ピンWLP (1.34mm x 1.36mm)

アプリケーション/用途

  • 電子書籍リーダー
  • スマートフォン
  • タブレットPC

スペックパラメータを参照する: Overvoltage Protection Controllers (74)


Part NumberChannelsVIN
(V)
VIN
(V)
Over Voltage Trip Level
(V)
Under Voltage Lockout
(V)
tGATE (On)
(ms)
tGATE (Off)
(µs)
Oper. Temp.
(°C)
Package/PinsBudgetary
Price
minmaxSee Notes
MAX14736 12.15.5Adjustable (4.7V)240.2-40 to +125
WLP/9
$0.59 @1k
MAX14737 Adjustable (5.2V)
WLP/9

価格についての注:
このページに掲載された価格は、類似製品と比較するための参考価格です。価格は米国ドルで表記されており変更されることがあります。購入数によって価格は大幅に変わることがあり、米国以外での価格は各地域の関税、税金、手数料、および為替レートによって異なることがあります。購入数やバージョンが確定されている場合の価格および在庫状況については、購入に関するページを参照いただくか正規代理店までお問い合わせください。

MAX14736EVKIT: MAX14736/MAX14737の評価キット
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デバイス   ウェハープロセス   プロセス技術   サンプルサイズ   不合格   FIT (25°C)   FIT (55°C)   Material Composition  

注: 不良率はプロセス技術ごとにまとめられ、関連する型番にマッピングされます。 不良率はテストされたユニット数に大きく依存します。

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