MAX14723

高精度、可変パワーリミッタ

温度制御電流フォールドバックを備えた業界初のダイナミックパワーリミッタ


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説明

調整可能な過電圧、低電圧、および過電流保護デバイスのMAX14721~MAX14723は、正過電圧および逆電圧フォルトに加え、過電流フォルトからもシステムを保護します。オプションの外付けpチャネルMOSFETと共に使用すると、これらのデバイスは下流回路も最大+60V、-60V (-60Vの外付けpFET定格時)の電圧フォルトから保護します。これらのデバイスは、76mΩの低オン抵抗のFETを内蔵しています。

起動時、これらのデバイスは、下流デバイスへの入力に大型蓄積コンデンサが使用されたアプリケーションで、出力の大型コンデンサを連続モードで充電するように設計されています。また、MAX14721~MAX14723は2段構成の電流制限モードを特長としており、起動後短時間の間、電流はそれぞれ、設定された制限の1倍、1.5倍、および2倍に連続的に制限されます。これによって、起動時の大きな負荷へのより高速な充電が可能となります。

MAX14721~MAX14723は、逆電流および過熱保護も備えています。これらのデバイスは20ピンTQFNパッケージ(5mm x 5mm)で提供され、-40℃~125℃の温度範囲で動作します。
MAX14721、MAX14722、MAX14723:標準アプリケーション回路 MAX14721、MAX14722、MAX14723:標準アプリケーション回路 拡大表示+

主な特長

  • 堅牢な、大電力保護によってシステムのダウンタイムを削減
    • 広い入力電源範囲:+5.5V~+60V
    • プログラマブル入力電源過電圧設定:最大40V
    • サーマルフォールドバック電流制限保護
    • 負入力耐性:-60V (-60Vの外付けpFET定格時)
    • 低RON:76mΩ (typ)
    • 外付けpFET使用時の逆電流ブロック保護
  • FETの過熱を防止することによって安全な起動を実現
    • 2段構成の電流制限
    • 起動時電流(MAX14721);1.0倍
    • 起動時電流(MAX14722):1.5倍
    • 起動時電流(MAX14723):2.0倍
  • 柔軟な設計によって再使用が可能で再認定を低減
    • 可変OVLOおよびUVLOスレッショルド
    • 設定可能な順方向電流制限:0.2A~2A、精度±15% (全温度範囲)
    • 標準および高電圧のイネーブル入力(ENおよびアクティブローのHVEN)
    • 外付けpFETゲートドライブ保護
  • 基板スペースを節約し外付けBOM数を低減
    • 20ピンTQFNパッケージ(5mm x 5mm)
    • nFET内蔵

アプリケーション/用途

  • 制御およびオートメーション
  • ハイパワーアプリケーション
  • ヒューマンマシンインタフェース
  • 産業用電源システム
  • モーションシステムドライブ

スペックパラメータを参照する: Overvoltage/Overcurrent Protectors with Internal MOSFETs (27)


Part NumberChannelsVIN
(V)
VIN
(V)
Internal Pwr. MOSFETsRON
(mΩ)
Current Limit
(A)
Current Limit
(A)
Current Limit Accuracy
(%)
Fault ResponseReverse Current Protect.Fault IndicatorOper. Temp.
(°C)
Package/PinsBudgetary
Price
minmaxtypminmaxSee Notes
MAX14721 15.560NMOS760.2210LatchoffYesYes-40 to +125
TQFN-CU/20
$2.15 @1k
MAX14722 
TQFN-CU/20
MAX14723 
TQFN-CU/20

価格についての注:
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MAX14721EVKIT: MAX14721/MAX14722およびMAX14723の評価キット

技術資料

アプリケーションノート 6961 How Protection ICs Maintain System Uptime
アプリケーションノート 6142 Industrial Internet of Things (IIoT) and Its Impact on the Design of Automation Systems
信頼性レポートをリクエスト: MAX14723 
デバイス   ウェハープロセス   プロセス技術   サンプルサイズ   不合格   FIT (25°C)   FIT (55°C)   Material Composition  

注: 不良率はプロセス技術ごとにまとめられ、関連する型番にマッピングされます。 不良率はテストされたユニット数に大きく依存します。

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