MAX14693

高精度、調整可能パワーリミッタ

温度制御電流フォールドバックを備えた業界初のダイナミックパワーリミッタ


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説明

調整可能な過電圧、低電圧、および過電流保護デバイスのMAX14691~MAX14693は、正過電圧および逆電圧フォルトに加え、過電流フォルトからもシステムを保護します。また、オプションの外付けpMOSFETと共に使用した場合、これらのデバイスは下流回路を最大+58V、-60V (-60V外付けpFET定格使用時)までの電圧フォルトから保護します。これらのデバイスは、31mΩの低オン抵抗のFETを内蔵しています。

起動時、これらのデバイスは、下流デバイスへの入力に大型蓄積コンデンサが使用されたアプリケーションで、出力の大型コンデンサを連続モードで充電するように設計されています。

また、これらのデバイスは2段構成の電流制限モードを特長としており、起動後短時間で、電流はそれぞれ、設定された制限の1倍、1.5倍、および2倍に連続的に制限されます。これによって、起動時の大きな負荷へのより高速な充電が可能となります。

MAX14691~MAX14693は、逆電流および過熱保護も備えています。これらのデバイスは20ピンTQFNパッケージ(5mm x 5mm)で提供され、-40℃~125℃の温度範囲で動作します。

MAX14691、MAX14692、MAX14693:標準アプリケーション回路 MAX14691、MAX14692、MAX14693:標準アプリケーション回路 拡大表示+

主な特長

  • 堅牢な、大電力保護によってシステムのダウンタイムを削減
    • 広い動作入力範囲:+5.5V~+58V
    • 負入力耐圧:-60V (外付けpFET定格-60V時)
    • 低RON:31mΩ (typ)
    • 外付けpFET使用時の逆電流ブロック保護
  • 高速起動とブラウンアウト回復が可能
    • サーマルフォールドバック電流制限保護
    • 2段構成の電流制限
      • 起動時電流(MAX14691):1.0倍
      • 起動時電流(MAX14692):1.5倍
      • 起動時電流(MAX14693):2.0倍
  • 柔軟な設計によって再使用が可能で再認定を低減
    • 可変OVLOおよびUVLOスレッショルド
    • 設定可能な順方向電流制限:0.6A~6A、精度±15% (全温度範囲)
    • 標準および高電圧のイネーブル入力(ENおよびアクティブローのHVEN)
    • 外付けpFETゲートドライブ保護
  • 基板スペースを節約し外付けBOM数を低減
    • 20ピンTQFNパッケージ(5mm x 5mm)
    • nFET内蔵

アプリケーション/用途

  • 制御およびオートメーション
  • ハイパワーアプリケーション
  • ヒューマンマシンインタフェース
  • 産業用電源システム
  • モーションシステムドライブ

スペックパラメータを参照する: Overvoltage/Overcurrent Protectors with Internal MOSFETs (27)


Part NumberChannelsVIN
(V)
VIN
(V)
Internal Pwr. MOSFETsRON
(mΩ)
Current Limit
(A)
Current Limit
(A)
Current Limit Accuracy
(%)
Fault ResponseReverse Current Protect.Fault IndicatorOper. Temp.
(°C)
Package/PinsBudgetary
Price
minmaxtypminmaxSee Notes
MAX14691 15.558NMOS310.6610LatchoffYesYes-40 to +125
TQFN-CU/20
$2.92 @1k
MAX14692 
TQFN-CU/20
MAX14693 
TQFN-CU/20

価格についての注:
このページに掲載された価格は、類似製品と比較するための参考価格です。価格は米国ドルで表記されており変更されることがあります。購入数によって価格は大幅に変わることがあり、米国以外での価格は各地域の関税、税金、手数料、および為替レートによって異なることがあります。購入数やバージョンが確定されている場合の価格および在庫状況については、購入に関するページを参照いただくか正規代理店までお問い合わせください。

MAX14691EVKIT: MAX14691~MAX14693の評価キット
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デバイス   ウェハープロセス   プロセス技術   サンプルサイズ   不合格   FIT (25°C)   FIT (55°C)   Material Composition  

注: 不良率はプロセス技術ごとにまとめられ、関連する型番にマッピングされます。 不良率はテストされたユニット数に大きく依存します。

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