MAX8795A

オペアンプ付き、TFT LCD DC-DCコンバータ

アクティブマトリックス、薄膜トランジスタ(TFT) LCD用、高性能ステップアップレギュレータ、2つのリニアレギュレータコントローラ、および大電流オペアンプ付き、TFT LCD、DC-DCコンバータ


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説明

MAX8795Aは、アクティブマトリックス、薄膜トランジスタ(TFT)、液晶ディスプレイ(LCD)用の1個の高性能ステップアップレギュレータ、2個のリニアレギュレータコントローラ、および5個の大電流オペアンプを内蔵しています。また、可変遅延付きロジック制御高電圧スイッチも備えています。

このステップアップDC-DCコンバータは、パネルのソースドライバICにレギュレートされた電源電圧を供給します。このコンバータは20VのnチャネルMOSFETを内蔵した高周波(1.2MHz)、電流モードレギュレータで、超小型インダクタとセラミックコンデンサを使用可能にします。85%を超える効率を実現し、パルス負荷に対して高速過渡応答します。

ゲートオン/ゲートオフリニアレギュレータコントローラは、スイッチングノードに接続された外付けチャージポンプを使ってレギュレートされたTFTゲートオン/ゲートオフ電源を供給します。MAX8795Aは、5個の高性能オペアンプを内蔵しています。これらのアンプは、LCDバックプレーン(VCOM)やガンマ補正用分圧抵抗列を駆動するように設計されています。このデバイスは、大出力電流(±130mA)、高速スルーレート(45V/µs)、広帯域幅(20MHz)、およびレイルトゥレイル入力/出力を備えています。

MAX8795Aは、超薄型LCDパネル用に鉛フリーの最大高0.8mmの32ピンTQFNパッケージおよびピンピッチ0.8mmの32ピンLQFPパッケージで提供されます。
MAX8795A:最小動作回路 MAX8795A:最小動作回路 拡大表示+

主な特長

  • 入力電源電圧範囲:2.5V~5.5V
  • 1.2MHzの電流モードのステップアップレギュレータ
    • パルス負荷に高速過渡応答
    • 高精度出力電圧:1%
    • 20V、3A、0.16ΩのnチャネルMOSFETを内蔵
    • 高効率:85%
  • VGONおよびVGOFF用リニアレギュレータコントローラ
  • 高性能オペアンプ
    • 出力短絡電流:±130mA
    • スルーレート:45V/µs
    • 20MHz、-3dBの帯域幅
    • レイルトゥレイル入力/出力
  • 可変遅延付きロジック制御高電圧スイッチ
  • 全レギュレータ出力に対するタイマ遅延障害ラッチ
  • 過熱/過負荷保護
  • 自己消費電流:0.6mA

アプリケーション/用途

  • 車載ディスプレイ
  • LCDモニタパネル
  • ノートブックコンピュータのディスプレイ
Part NumberPrimary TopologyMonitor/Control FeaturesDC-DC/Power FeaturesLCD/LED/Flash/CCD FeaturesVIN
(V)
VIN
(V)
VOUT
(V)
VOUT
(V)
Max. IOUT
(A)
Max. IOUT
(A)
Oper. Freq.
(kHz)
Package/PinsBudgetary
Price
minmaxminmaxSee Notes
MAX8795A Step-Up
Output OVP
Shutdown
Current Limit
Fixed Freq./PWM
Internal Switch
Soft Start
TFT Bias
VCOM Buffer
2.563180.50.51200
LQFP/32
TQFN/32
$5.25 @1k
全Multifunction PMICs (84)
価格についての注:
このページに掲載された価格は、類似製品と比較するための参考価格です。価格は米国ドルで表記されており変更されることがあります。購入数によって価格は大幅に変わることがあり、米国以外での価格は各地域の関税、税金、手数料、および為替レートによって異なることがあります。購入数やバージョンが確定されている場合の価格および在庫状況については、購入に関するページを参照いただくか正規代理店までお問い合わせください。

品質および環境データ

製品の信頼性レポート: MAX8795A.pdf 
鉛フリーパッケージの錫(Sn)のウィスカレポート
デバイス   ウェハープロセス   プロセス技術   サンプルサイズ   不合格   FIT (25°C)   FIT (55°C)  

注: 不良率はプロセス技術ごとにまとめられ、関連する型番にマッピングされます。 不良率はテストされたユニット数に大きく依存します。

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