MAX5927A

低電圧、クワッド、ホットスワップコントローラ/電源シーケンサ

低電圧電源用、シーケンス、トラッキング、または独立したオン/オフ制御を可能にするトリプル/クワッド、ホットスワップコントローラ


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説明

+1V~+15VのクワッドホットスワップコントローラのMAX5927A/MAX5929A~MAX5929Dは、 マルチ電源システムの完全保護を提供します。これらの製品は、通電中のバックプレーンに対する回路カードの安全な挿抜を可能にします。これらのデバイスは、1つの電源が+2.7V以上の場合、+1V~+15Vの複数の電源をホットスワップします。入力電圧レイル(チャネル)は、順次ターンオン/オフ、相互トラッキング、または完全独立動作を行うように構成することができます。

回路カードの放電されたフィルタコンデンサは、通電中のバックプレーンに対してローインピーダンスになります。バックプレーンからの回路カードへの大突入電流は、コネクタや部品を焼損し、バックプレーン電源を瞬時的に崩壊させ、システムリセットになる可能性があります。ホットスワップコントローラのMAX5927A/MAX5929A~MAX5929Dは、基板がプラグインされると、出力電圧を緩やかに立ち上げて、プリセット制限値まで電流をレギュレートして、このような問題を防止し、システムを安全に安定化することができます。起動サイクルが完了すると、内蔵コンパレータが短絡および過電流フォルトに対してVariableSpeed/BiLevel™保護を提供し、システムノイズと負荷過渡に対する耐性を提供します。フォルト状態が発生すると、負荷は切断されます。MAX5929C/MAX5929Dは、フォルト状態の後、自動的に再起動しますが、MAX5929A/MAX5929Bはラッチを解除する必要があります。MAX5927Aのフォルト測定モードは選択可能です。

MAX5927A/MAX5929A~MAX5929Dは、外付け部品点数と設計時間を削減するさまざまなオプションを提供します。すべてのデバイスは、低コストの外付けnチャネルMOSFETのゲートを駆動するチャージポンプ、調整可能な起動タイマー、および可変の電流制限を内蔵しています。これらのデバイスは、起動電流レギュレーションおよび電流グリッチ保護などの機能を内蔵しているため、外付けタイミング抵抗やコンデンサは不要です。MAX5929B/MAX5929Dは各チャネルにオープンドレイン、アクティブローステータス出力を提供し、MAX5929A/MAX5929Cは各チャネルにオープンドレイン、アクティブハイステータス出力を提供し、MAX5927Aのステータス出力極性は選択可能です。

MAX5927Aは32ピンTQFNパッケージで提供され、MAX5929A~MAX5929Dは24ピンQSOPパッケージで提供されます。すべてのデバイスは、-40℃~+85℃の拡張温度範囲での動作が保証されています。
MAX5927A、MAX5929A、MAX5929B、MAX5929C、MAX5929D:標準動作回路 MAX5927A、MAX5929A、MAX5929B、MAX5929C、MAX5929D:標準動作回路 拡大表示+

主な特長

  • いずれの入力電圧(VIN_ ≥ 2.7V)によっても、+1V~+15Vの電源に対して安全なホットスワップ
  • 可変の回路ブレーカ/25mV~100mVの電流制限スレッショルド
  • 構成可能なトラッキング、シーケンス、または独立動作モード
  • VariableSpeed/BiLevel回路ブレーカ応答
  • 内蔵チャージポンプによってnチャネルMOSFETゲートドライブを生成
  • 起動時に突入電流をレギュレート
  • オートリトライまたはラッチ付きフォルト管理
  • プログラマブル低電圧ロックアウト
  • ステータス出力によってフォルト/セーフ状態を表示

アプリケーション/用途

  • 基地局ラインカード
  • ベイ(ドッキングステーション)
  • 活線挿抜ドータカード
  • ネットワークスイッチ、ルータ、ハブ
  • PCI Express®ホットプラグ
  • ポータブルコンピュータ機器
  • 電源シーケンス/トラッキング
  • RAID

技術資料

リファレンス回路図 4228

品質および環境データ

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鉛フリーパッケージの錫(Sn)のウィスカレポート

CAD Symbols and Footprints

  • MAX5927AETJ+
  • MAX5927AETJ+T
  • デバイス   ウェハープロセス   プロセス技術   サンプルサイズ   不合格   FIT (25°C)   FIT (55°C)  

    注: 不良率はプロセス技術ごとにまとめられ、関連する型番にマッピングされます。 不良率はテストされたユニット数に大きく依存します。

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    関連リソース

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