MAX38908

4A/2A高性能LDOリニアレギュレータ

高速過渡応答、高PSRR NMOSリニアレギュレータ、最大4Aの負荷電流を供給


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説明

MAX38907/MAX38908/MAX38909は高速過渡応答、高PSRR NMOSリニアレギュレータで、最大4Aの負荷電流を供給します。

これらのレギュレータは、0.9V~5.5Vの広い入力電源範囲と、2.7V~20VのBIAS電圧範囲に対応し、多様なアプリケーションでより広い電源オプションを提供します。±1%の出力精度がライン、負荷、および温度の変動にわたって維持され、最大負荷時に必要な入力-出力間ヘッドルームはわずか300mVで優れたPSRRを実現します。出力電圧は0.6V~5.0Vの範囲の値に調整可能で、複数の電圧レール用にBOM内で1つのLDOを指定することを望むお客様に対応します。

MAX38907は、3つのデジタル設定端子を使用して27の出力電圧の1つに設定可能です。さらに、マージニング用に各出力電圧の選択を±5%調整することが可能です。MAX38908/MAX38909の出力電圧は、2つの外付けフィードバック抵抗を使用することによって0.6V~5.0Vの範囲の値に調整可能です。これらのLDOは、設定可能な突入電流制限、出力過電流制限、逆方向電流制限、および熱過負荷保護を提供する内部回路によって損傷から完全に保護されます。

MAX38907は20ピンTQFNパッケージ(5mm × 5mm)で提供され、MAX38908/MAX38909は14ピンTDFNパッケージ(3mm × 3mm)および5 × 3ピンWLPパッケージ(0.4mmピッチ)で提供されます。
MAX38907、MAX38908、MAX38909:ファンクションダイアグラム MAX38907、MAX38908、MAX38909:ファンクションダイアグラム 拡大表示+

主な特長

  • 柔軟な動作範囲を提供
    • 入力電圧範囲:0.9V~5.5V
    • BIAS電圧範囲:2.7V~20V
    • 設定可能な出力電圧:0.6V~5.0V
    • 出力電流:4A (max)
    • ドロップアウト:82mV (4A負荷電流時)
    • 動作BIAS消費電流:1.6mA
  • ノイズを低減し精度を向上
    • DC精度:±1% (全負荷、ライン、および温度範囲)
    • 過渡偏位:28mV (4A負荷時)
    • BIAS PSRR:78dB (10kHz時)
    • IN PSRR:52dB (10kHz時)
  • 簡便な使用と堅牢な保護を実現
    • 安定出力容量:10µF (min)
    • 設定可能なソフトスタートレート
    • 過電流および過熱保護
    • 出力-入力逆方向電流保護
    • パワーOKステータス端子
  • サイズを小型化、信頼性を向上
    • 14ピンTDFNパッケージ(3mm × 3mm)、20ピンTQFNパッケージ(5mm × 5mm)、および5 × 3ピンWLPパッケージ(0.4mmピッチ)
    • 動作温度:-40℃~125℃

アプリケーション/用途

  • 基地局
  • FPGAおよびDSP
  • 医療、オーディオ、および計測器
  • PLC
  • ポータブルカメラ
  • サーバーµP

スペックパラメータを参照する: Linear Regulators (134)


Part NumberRegulatorsVIN
(V)
VIN
(V)
Adj. VOUT
(V)
Adj. VOUT
(V)
VDROPOUT @Rated ILOAD
(V)
Rated ILOAD
(mA)
Rated ILOAD
(mA)
ICC
(µA)
Output Voltage Noise
(µV RMS)
Ref. BypassLow Batt./ Pwr. Fail OutPOK/Reset Thresh.
(V)
WatchdogReverse Batt. Protect.Oper. Temp.
(°C)
Package/PinsBudgetary
Price
minmaxminmaxtypmaxtypnomSee Notes
MAX38908 10.95.50.650.0824000400015025YesNoVout-9%NoNo-40 to +125
TDFN-CU/14
THIN WLP/15
$2.78 @1k

価格についての注:
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MAX38908EVK-TDFN: MAX38908の評価キット
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デバイス   ウェハープロセス   プロセス技術   サンプルサイズ   不合格   FIT (25°C)   FIT (55°C)   Material Composition  

注: 不良率はプロセス技術ごとにまとめられ、関連する型番にマッピングされます。 不良率はテストされたユニット数に大きく依存します。

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