MAX15027

1.425V~3.6V入力、BIAS入力、1A低ドロップアウトレギュレータ

1Aの出力電流を提供する高性能LDO


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説明

低ドロップアウトリニアレギュレータのMAX15027/MAX15028は、わずか1.425Vの低い入力電圧で動作し、わずか75mVの標準ドロップアウト電圧で最大1Aの連続出力電流を供給します。出力電圧は、0.5V~VINに調整可能で、その精度は全負荷および入力において±2%です。動作温度範囲は-40℃~+125℃です。MAX15028は、常時オン電源からの3V~5.5VのBIAS入力を備えています。BIAS入力電流は、シャットダウン時にわずか2µA以下に低減されます。

これらのレギュレータは、小型、1µFのセラミック入力コンデンサおよび4.7µFのセラミック出力コンデンサを使って、1A出力電流を供給します。広い帯域幅によって優れた過度応答が可能になり、わずか4.7µFのセラミック出力コンデンサで、500mA負荷ステップの場合、出力電圧偏差が15mVに制限され、出力コンデンサを大きくすると、電圧偏差をさらに小さくすることができます。

これらのデバイスは、ロジック制御されたシャットダウン入力を提供し、入力電流(IIN)消費をスタンバイモードで5.5µA以下まで低減します。その他の機能として、突入電流を抑制するソフトスタート、短絡保護、および熱過負荷保護も備えています。

MAX15028は、BIAS入力を備えているため、INの電圧が0Vになった場合に二次電源がLDOの内部回路をアクティブに維持することができます。いずれのデバイスも、-40℃~+125℃での動作が完全保証され、最適な放熱を可能にするエクスポーズドパッドを備え、放熱特性に優れた10ピンTDFNパッケージ(3mm x 3mm)で提供されます。これらのLDOの500mAバージョンについては、MAX15029/MAX15030のデータシートを参照してください。
MAX15027、MAX15028:標準動作回路 MAX15027、MAX15028:標準動作回路 拡大表示+

主な特長

  • 入力電圧範囲:1.425V~3.6V
  • 出力電圧:0.5V~VINに設定可能
  • 保証最大ドロップアウト:225mV (出力電流1Aの場合)
  • 出力精度:±2% (全負荷、ライン、および温度範囲)
  • セラミックコンデンサで安定動作
  • 高速過渡応答
  • 動作バイアス消費電流:60µA (MAX15028)
  • シャットダウンバイアス消費電流:1.2µA (MAX15028)
  • 短絡および過熱保護
  • 動作温度範囲:-40℃~+125℃
  • ソフトスタートによって突入電流を抑制
  • 放熱特性に優れた3mm x 3mmのTDFNパッケージ
  • AEC-Q100認定

アプリケーション/用途

  • ATE
  • 車載用(デッドマンLDO)
  • 基地局
  • ネットワーキング
  • 光モジュール
  • サーバ
  • ストレージ
Part NumberRegulatorsVIN
(V)
VIN
(V)
Adj. VOUT
(V)
Adj. VOUT
(V)
VDROPOUT @Rated ILOAD
(V)
Rated ILOAD
(mA)
Rated ILOAD
(mA)
ICC
(µA)
Low Batt./ Pwr. Fail OutWatchdogReverse Batt. Protect.Oper. Temp.
(°C)
Package/PinsBudgetary
Price
minmaxminmaxtypmaxSee Notes
MAX15027 11.4253.60.53.30.07510001000410NoNoNo-40 to +125
TDFN/10
$1.07 @1k
全Linear Regulators (144)
価格についての注:
このページに掲載された価格は、類似製品と比較するための参考価格です。価格は米国ドルで表記されており変更されることがあります。購入数によって価格は大幅に変わることがあり、米国以外での価格は各地域の関税、税金、手数料、および為替レートによって異なることがあります。購入数やバージョンが確定されている場合の価格および在庫状況については、購入に関するページを参照いただくか正規代理店までお問い合わせください。

品質および環境データ

製品の信頼性レポート: MAX15027.pdf 
鉛フリーパッケージの錫(Sn)のウィスカレポート

CAD Symbols and Footprints

  • MAX15027ATB+
  • MAX15027ATB+T
  • MAX15027ATB/V+
  • MAX15027ATB/V+T
  • デバイス   ウェハープロセス   プロセス技術   サンプルサイズ   不合格   FIT (25°C)   FIT (55°C)  

    注: 不良率はプロセス技術ごとにまとめられ、関連する型番にマッピングされます。 不良率はテストされたユニット数に大きく依存します。

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    Status:
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