MAX17596

ピーク電流モードコントローラ、フライバックおよびブーストレギュレータ用

小型、高コスト効率、高い柔軟性を備えた絶縁型/非絶縁型電源を実現


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説明

MAX17595/MAX17596/MAX17597は、広入力電圧フライバックおよびブーストレギュレータの設計用ピーク電流モードコントローラのファミリです。MAX17595は、ユニバーサル入力AC-DCコンバータおよびテレコムDC-DC (36V~72V入力範囲)電源用に最適化された入力スレッショルドを提供します。MAX17596/MAX17597は、低電圧DC-DCアプリケーション(4.5V~36V)に最適な入力スレッショルドを提供します。MAX17597はブーストコンバータを実装しています。3つのコントローラはいずれも、外付けのnチャネルMOSFET用のゲートドライバを内蔵しています。

MAX17595/MAX17596/MAX17597は、1%の高精度リファレンスを備えたエラーアンプを内蔵しており、外部リファレンスが不要です。スイッチング周波数は、8%の精度で100kHz~1MHzに設定することができ、磁気およびフィルタ部品の最適化が可能なため、小型かつコスト効率に優れた電力変換を実現します。EMIの影響を受けやすいアプリケーションの場合、MAX17595/MAX17596/MAX17597ファミリは、設定可能な周波数ディザリング方式を備えているため、低EMIスペクトラム拡散動作が可能です。

ユーザーは正確に所望の入力電圧で電源を起ち上げ、入力過電圧保護を実装し、ソフトスタート時間を設定することができます。設定可能なスロープ補償方式が提供されており、ピーク電流モード制御方式の安定性が確保されます。

ヒカップモード過電流保護およびサーマルシャットダウンは、過電流および過熱フォルト状態時の消費電力を最小限に抑えるために提供されています。

MAX17595、MAX17596、MAX17597:ブロックダイアグラム MAX17595、MAX17596、MAX17597:ブロックダイアグラム 拡大表示+

主な特長

  • 設定可能なスイッチング周波数によって磁気およびフィルタ部品の最適化を可能にして、小型で高コスト効率の優れた絶縁/非絶縁型電源を実現
    • 設定可能なスイッチング周波数:100kHz~1MHz (同期オプション付き)
    • ピーク電流モード制御によって優れた過渡応答を提供
      • オフライン(ユニバーサル入力AC)およびテレコム(36V~72V)フライバックコントローラ(MAX17595)
      • DC-DC (4.5V~36V)フライバックコントローラ(MAX17596)
      • 非同期(4.5V~36V)ブーストPWMコントローラ(MAX17597)
    • TQFNパッケージ(3mm x 3mm)
  • 設定可能な周波数ディザリングによって低EMIスペクトラム拡散動作を実現
  • 内蔵保護機能によってシステムの信頼性を向上
    • 外付け電流検出抵抗で調整可能な電流制限
    • 高速サイクル単位のピーク電流制限
    • ヒカップモード短絡保護
    • 過熱保護
    • 設定可能なソフトスタートおよびスロープ補償
    • 入力過電圧保護

アプリケーション/用途

  • バッテリ駆動アプリケーション
  • 産業およびテレコムアプリケーション
  • ユニバーサル入力オフラインAC-DC電源
  • 広範囲DC入力フライバック/ブーストバッテリチャージャ

Pricing Notes:
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MAX17595EVKIT: MAX17595の評価キット
MAX17597EVKIT: MAX17597の評価キット
MAX17597FBEVKIT: MAX17597フライバック構成の評価キット
MAX17596EVKIT: MAX17596の評価キット

技術資料

ユーザーガイド 5861 EE-SIM Design and Simulation Environment User Guide
アプリケーションノート 5504 Designing Flyback Converters Using Peak-Current-Mode Controllers

ツールおよびモデル

  • EE-Sim: MAX17596設計およびシミュレーション
  • MAX17596 SIMPLIS Model
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    デバイス   ウェハープロセス   プロセス技術   サンプルサイズ   不合格   FIT (25°C)   FIT (55°C)   Material Composition  

    注: 不良率はプロセス技術ごとにまとめられ、関連する型番にマッピングされます。 不良率はテストされたユニット数に大きく依存します。

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