DS2778

FuelPack、プロテクタ、およびSHA-1認証内蔵、2セル、残量ゲージ

業界最小、Li+ (リチウムイオン)プロテクタおよびSHA-1認証を内蔵した、2セル、スタンドアロン残量ゲージ


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説明

DS2775~DS2778は、充電式リチウムイオン(Li+)およびLi+ポリマ(Li-Poly)バッテリの残容量をmAhおよび満充電に対するパーセンテージで報告します。内蔵のLi+保護回路によって安全な動作が保証されます。DS2776/DS2778は、DS2775/DS2777のすべての機能に加え、SHA-1ベースのチャレンジ&レスポンス認証をサポートしています。

容量の概算を計算するために、セル特性表およびアプリケーションパラメータに加え、電圧、温度、および電流の正確な測定値が使用されます。測定された温度、放電レート、電荷残量、およびアプリケーションパラメータを考慮し、容量レジスタが除去可能な充電量を低めに見積もりそれを報告します。

DS2775~DS2778は、2つのLi+またはLi-Polyセルからなるバッテリパックに直接搭載することができるように、+4.0V~+9.2Vで動作します。

セル補償およびアプリケーションパラメータの不揮発性保存に加え、DS2775~DS2778はホストシステムおよび/またはパックメーカーがバッテリーロットや日付の追跡情報の保存に使用することができる16バイトのEEPROMを提供しています。このEEPROMは、システムおよび/またはバッテリの使用統計の不揮発性保存用にも使用可能です。マキシムの1-Wire® (DS2775/DS2776)または2線式(DS2777/DS2778)インタフェースは、測定および容量データレジスタ、制御レジスタ、およびユーザメモリにアクセスするためのシリアル通信を提供します。DS2776/DS2778は、バッテリパックの検証にチャレンジ&レスポンスのパック認証でSHA-1ハッシュアルゴリズムを使用します。
DS2775、DS2776、DS2777、DS2778:標準アプリケーション回路 DS2775、DS2776、DS2777、DS2778:標準アプリケーション回路 拡大表示+

主な特長

  • ハイサイドnFETドライバおよび保護回路
  • 高精度電圧、温度、および電流測定システム
  • クーロンカウント、放電レート、温度、およびセル特性によるセル容量の予測
  • 学習サイクル間でセルの劣化を予測
  • 低コスト検出抵抗を使用可能
  • ゲインおよび温度係数の較正可能
  • 設定可能な過電圧および過電流スレッショルド
  • SHA-1アルゴリズム(DS2776/DS2778)を使用したパック認証
  • 32バイトのパラメータEEPROM
  • 16バイトのユーザEEPROM
  • 64ビットの固有IDを備えたマキシム1-Wireインタフェース(DS2775/DS2776)
  • 64ビットの固有IDを備えた2線式インタフェース(DS2777/DS2778)
  • 3mm x 5mm、14ピンTDFN鉛フリーパッケージ

アプリケーション/用途

  • デジタルスチル、ビデオ、およびアクションカメラ
  • ハンドヘルドコンピュータおよび端末
  • ハンドヘルドラジオ
  • ヘルスおよびフィットネスモニタ
  • ホームおよびビルオートメーション、センサー
  • 医療用機器
  • パワーツール
  • スマートバッテリ

スペックパラメータを参照する: Battery Fuel Gauges, Protectors, and Monitors (52)


Part NumberFunctionsBattery TypeFuel Gauge AlgorithmInterface
DS2775 
Fuel Gauge
Protector
Status Monitor
2 Cell Li-IonFuelPack1-Wire
DS2776 1-Wire
DS2777 2-Wire
DS2778 2-Wire

価格についての注:
このページに掲載された価格は、類似製品と比較するための参考価格です。価格は米国ドルで表記されており変更されることがあります。購入数によって価格は大幅に変わることがあり、米国以外での価格は各地域の関税、税金、手数料、および為替レートによって異なることがあります。購入数やバージョンが確定されている場合の価格および在庫状況については、購入に関するページを参照いただくか正規代理店までお問い合わせください。

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製品の信頼性レポート: DS2778.pdf 
デバイス   ウェハープロセス   プロセス技術   サンプルサイズ   不合格   FIT (25°C)   FIT (55°C)   Material Composition  

注: 不良率はプロセス技術ごとにまとめられ、関連する型番にマッピングされます。 不良率はテストされたユニット数に大きく依存します。

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種類 ID タイトル
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