DS2777EVKIT

DS2775DS2776DS2777、およびDS2778の評価キット


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説明

DS2775~DS2778の評価キット(EVキット)は、リチウムイオン(Li+)プロテクタおよびSHA-1認証機能を内蔵した2セルスタンドアロン残量ゲージICのDS2775~DS2778の性能評価、ソフトウェア開発、およびプロトタイプ作成を容易にします。これらの評価ボードは、USBアダプタのDS9123OとRJ11ケーブル接続によってPCとインタフェースします。付属のCD-ROMには、USB動作対応のすべてのWindows XP®以下のオペレーティングシステム(OS)で動作可能な評価ソフトウェアとともに、関連する全データシートが収録されています。

DS2775~DS2778のEVキットソフトウェアを使って、ユーザはDS2775~DS2778のすべての機能を完全に制御することができます。個別の制御タブによって、ユーザは、すべてのEEPROMおよびRAMメモリ領域、制御レジスタ、全監視対象パラメータのリアルタイムの更新、およびSHA-1機能にアクセスすることができます。また、ソフトウェアは、セルを経時監視するデータロギング機能も内蔵しています。

この評価ボード回路は、DS2775~DS2778に高精度なパラメータ測定を提供するように設計されています。キットのデモボードは、今後の改善によって変更されます。

主な特長

  • DS2775~DS2778の以下の性能を検証
    • Li+セルの残容量を推定
    • 2セル電圧測定
    • 電流測定
    • 電流積算
    • 温度測定
    • 情報保存
    • 識別
    • 過電圧/低電圧保護
    • 過電流/短絡保護
    • SHA-1アルゴリズムを使ったセキュアなチャレンジ&レスポンス認証(DS2776およびDS2778のみ)
    • USB動作対応のWindows XP以下のOSで動作するPCのUSBポートにインタフェース

アプリケーション/用途

  • 民生および軍用無線
  • DSLRカメラ
  • 低コストノートブック
  • ポータブル医療機器
  • UMPC
  • ビデオカメラ
デバイス   ウェハープロセス   プロセス技術   サンプルサイズ   不合格   FIT (25°C)   FIT (55°C)  

注: 不良率はプロセス技術ごとにまとめられ、関連する型番にマッピングされます。 不良率はテストされたユニット数に大きく依存します。

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