MAX3170

+3.3V、マルチプロトコル、3 Tx/3 Rx、ソフト選択可能なクロック/データトランシーバ

業界初、制御信号との併用に向く+3.3Vマルチプロトコルトランシーバ


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説明

MAX3170は、+3.3V単一電源で動作する3ドライバ/3 レシーバのマルチプロトコルトランシーバです。MAX3170とMAX3171/MAX3173およびMAX3172/MAX3174を組み合わせると、V.28 (RS-232)、V.11 (RS-449/V.36、EIA530、EIA530-A、X.21)およびV.35プロトコルをサポートする完全ソフトウェア選択式データターミナル機器(DTE)またはデータ通信機器(DCE)インタフェースポートが得られます。MAX3170トランシーバは高速クロックとデータ信号を扱い、MAX3171またはMAX3173が制御信号を扱います。MAX3170はMAX3172またはMAX3174ソフトウェア選択式抵抗終端処理ネットワークまたはディスクリート終端処理ネットワークによって終端処理できます。

内部チャージポンプおよびマキシム独自の低ドロップアウトトランスミッタ出力段により、+3.3V単一電源からV.11、V.28およびV.35適合動作が可能です。全てのモードピン(M0、M1およびM2)がハイに引き上げられるか、あるいは未接続の場合はノーケーブルモードになります。ノーケーブルモードにおいては、消費電流が1mAに低減し、全てのトランスミッタおよびレシーバ出力がディセーブルされます(ハイインピーダンス)。短絡制限およびサーマルシャットダウン回路が過剰な電力消費からドライバを保護します。
MAX3170:標準動作回路 MAX3170:標準動作回路 拡大表示+

主な特長

  • 初の+3.3V単一電源トランシーバ
  • 3V/5VロジックコンパチブルI/O
  • 認定済みTBR-1およびTBR-2適合(NET1およびNET2)—手続き中
  • V.28 (RS-232)、V.11 (RS-449/V.36、EIA530、EIA530-A、X.21)およびV.35プロトコルをサポート
  • ソフトウェア選択式DTE/DCE
  • MAX3171/MAX3173およびMAX3172/MAX3174との組み合わせにより完全DTE/DCEポートを実現
  • 真のフェイルセーフレシーバ動作
  • パッケージ:小型28ピンSSOP
  • 10Mbps動作(V.11/V.35)
  • 僅か4つの超小型表面実装コンデンサで動作
  • 全てのトランスミッタ出力は±15Vの障害保護付(ケーブルの配線ミスに耐性)

アプリケーション/用途

  • CSU/DSU
  • データネットワーキングPCIカード
  • データルータ

スペックパラメータを参照する: Multiprotocol Transceivers (17)


Part NumberFunctionsRS-232 Data Rate
(Mbps)
RS-485 Data Rate
(Mbps)
Single Ended Tx/RxDiff. Tx/RxShutdnSupported ProtocolsDCE/ DTE Interchg.Rx Glitch RejectionTx Fault Protect.On Chip Charge PumpICC
(mA)
ICC (Shutdown)
(µA)
Package/PinsBudgetary
Price
maxmaxmaxSee Notes
MAX3170 Multiprotocol Clock and Data Transceiver0.24103/33/3Yes
RS-232
RS-449
RS-485
RS-530
RS-530A
V.11
V.28
V.35
X.21
YesNoYesYes2502000
SSOP/28
$7.31 @1k

価格についての注:
このページに掲載された価格は、類似製品と比較するための参考価格です。価格は米国ドルで表記されており変更されることがあります。購入数によって価格は大幅に変わることがあり、米国以外での価格は各地域の関税、税金、手数料、および為替レートによって異なることがあります。購入数やバージョンが確定されている場合の価格および在庫状況については、購入に関するページを参照いただくか正規代理店までお問い合わせください。

MAX3170EVKIT: MAX3170、MAX3171、MAX3172の評価キット
製品の信頼性レポート: MAX3170.pdf 
デバイス   ウェハープロセス   プロセス技術   サンプルサイズ   不合格   FIT (25°C)   FIT (55°C)   Material Composition  

注: 不良率はプロセス技術ごとにまとめられ、関連する型番にマッピングされます。 不良率はテストされたユニット数に大きく依存します。

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