MAX14829

低電力IO-Linkデバイストランシーバ、デュアルドライバ内蔵

小型、端子制御低電力デュアルIO-Linkトランシーバ


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説明

MAX14829は、産業用センサーで一般的に使用される高電圧機能を内蔵しています。MAX14829は、アクティブ逆極性保護を内蔵した2つの超低電力ドライバを備え、9V~60Vの電源電圧での動作が保証されています。MAX14829の高電圧耐性によってマイクロTVSの使用が可能で、過渡保護が簡素化されます。

デバイスの設定および監視に端子が使用されます。ドライバ過負荷および電源モニタ出力が利用可能です。端子制御によって、マイクロコントローラを使用しないスイッチングセンサーとの動作が可能です。

2つの内蔵リニアレギュレータ(3.3Vおよび5V)は、デバイスまたは外部回路用の低ノイズアナログおよびロジック電源レールを提供します。

MAX14829は24ピンTQFNパッケージ(4mm × 4mm)で提供され、-40℃~+125℃の拡張温度範囲での動作が保証されています。

MAX14829:ファンクションダイアグラム MAX14829:ファンクションダイアグラム 拡大表示+

主な特長

  • 低消費電力によって小型センサーのサーマルフットプリントを削減
    • ドライバのオン抵抗:2.3Ω/2.7Ω (typ)
    • 動作消費電力:60mW (typ)
  • 設定自由度と集積によってSKU (在庫)を削減
    • 補助デジタル出力(DO)および入力(DI):24V
    • 選択可能なドライバ電流:100mA~330mA
    • 端子制御インタフェースによる設定および監視
    • 低ノイズリニアレギュレータ:3.3Vおよび5V
    • オプションの外付けトランジスタでより高いレギュレータ負荷能力に対応
    • 監視回路によって24V電源を監視
  • 選択可能なドライバ内蔵保護によって堅牢な通信を実現
    • インタフェースおよび電源端子の65Vの絶対最大定格によって柔軟なTVS保護が可能
    • 動作保証範囲:9V~60V
    • グリッチフィルタによってバーストおよびノイズ耐性を向上
    • サーマルシャットダウン自動再試行サイクル
    • ホットプラグV24電源保護
    • 全センサーインタフェース入出力の逆極性保護
    • 動作温度範囲:-40℃~+125℃

アプリケーション/用途

  • 産業用センサー
  • IO-Link®センサーおよびアクチュエータ
  • セーフティアプリケーション

スペックパラメータを参照する: IO-Link Transceivers and Binary Drivers (15)


Part NumberFunctionsVCC
(V)
VCC
(V)
C/Q
(mA)
DO
(mA)
Logic-Level Supply Voltage
(V)
Integrated PowerProtection FeaturesPackage/PinsOper. Temp.
(°C)
Budgetary
Price
minmaxtyptypSee Notes
MAX14829 NEW!Transceiver with Dual Drivers9653303302.5 to 5.5
3.3V LDO
5V LDO
Current Limiter
High Temp Warning and Shutdown
Hot Plug Supply Protection
Reverse Current Blocking
Reverse Polarity
Selectable Overcurrent
Short Circuit
UVLO
TQFN-CU/24
-40 to +125$3.35 @1k

価格についての注:
このページに掲載された価格は、類似製品と比較するための参考価格です。価格は米国ドルで表記されており変更されることがあります。購入数によって価格は大幅に変わることがあり、米国以外での価格は各地域の関税、税金、手数料、および為替レートによって異なることがあります。購入数やバージョンが確定されている場合の価格および在庫状況については、購入に関するページを参照いただくか正規代理店までお問い合わせください。

MAX14829EVKIT: MAX14829の評価キット

技術資料

ユーザーガイド 6454 IO-Link Handbook
信頼性レポートをリクエスト: MAX14829 
デバイス   ウェハープロセス   プロセス技術   サンプルサイズ   不合格   FIT (25°C)   FIT (55°C)   Material Composition  

注: 不良率はプロセス技術ごとにまとめられ、関連する型番にマッピングされます。 不良率はテストされたユニット数に大きく依存します。

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