DS9503

抵抗付き、ESD保護ダイオード


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説明

This DS9503 is an ESD protection device for 1-Wire® interfaces. In contrast to the DS9502, the DS9503 includes two 5Ω isolation resistors on chip. Although 5Ω are negligible during communication, they represent a high impedance relative to the conducting diode during an ESD event. Thus, the diode absorbs the energy while the resistors further isolate and protect the circuit at the other side of the package. If used with circuits that already have a strong ESD-protection at their I/O port, the ESD protection level is raised to more than 27kV (IEC 801-2 Reference model). In case of abnormal ESD hits beyond its maximum ratings the DS9503 will eventually fail "short" thus preventing further damage.

During normal operation the DS9503 behaves like a Zener diode. When the voltage exceeds the trigger voltage, the I/V characteristic of the device will "snapback" allowing the same or higher amount of current to flow, but at a significantly lower voltage. As long as a minimum current or voltage is maintained, the device will stay in the "snapback mode." If the voltage or the current falls below the holding voltage or holding current, the device will abruptly change to its normal mode and conduct only a small leakage current.
DS9503:標準アプリケーション回路 DS9503:標準アプリケーション回路 拡大表示+

主な特長

  • Zener characteristic with voltage snap-back to protect against ESD hits
  • High avalanche voltage, low leakage and low capacitance avoid signal attenuation
  • Compatible to all 5V logic families
  • Space-saving, low-inductance TSOC surface-mount package
  • On-chip 5 ohm resistors for isolation at both anode and cathode terminals
  • Industrial temperature range
Part NumberProtection MethodChannelsC
(pF)
Package/PinsBudgetary
Price
See Notes
DS9503 7.5V Snap-Back Zener with Two 5 Ohm Resistors1100
TSOC/6
$0.38 @1k
全ESD Protection Diode Arrays (13)
価格についての注:
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技術資料

アプリケーションノート 5724 Lightning Bolts, Defibrillators, and Protection Circuitry Save Lives
アプリケーションノート 3377 マキシムのウェハレベルパッケージの実装ガイド

品質および環境データ

製品の信頼性レポート: DS9503.pdf 
鉛フリーパッケージの錫(Sn)のウィスカレポート
デバイス   ウェハープロセス   プロセス技術   サンプルサイズ   不合格   FIT (25°C)   FIT (55°C)  

注: 不良率はプロセス技術ごとにまとめられ、関連する型番にマッピングされます。 不良率はテストされたユニット数に大きく依存します。

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