DS2407

デュアル、アドレス指定可能スイッチプラス1kbメモリ


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技術資料

アプリケーションノート 155 1-Wireソフトウェアリソースガイドデバイス解説

品質および環境データ

製品の信頼性レポート: DS2407.pdf 
鉛フリーパッケージの錫(Sn)のウィスカレポート
デバイス   ウェハープロセス   プロセス技術   サンプルサイズ   不合格   FIT (25°C)   FIT (55°C)  

注: 不良率はプロセス技術ごとにまとめられ、関連する型番にマッピングされます。 不良率はテストされたユニット数に大きく依存します。

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関連リソース

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