MAX14830

クワッドシリアルUART、128ワードFIFO内蔵

業界初、クワッドSPI/I²C UART


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説明

MAX14830は、高度なクワッド汎用非同期送受信機(UART)です。各UARTは128ワードの受信/送信ファーストイン/ファーストアウト(FIFO)と高速シリアルペリフェラルインタフェース(SPI)またはI²Cコントローラインタフェースを備えています。PLLとフラクショナルボーレートジェネレータによって、ボーレートのプログラミングとリファレンスクロックの選択を高いレベルの柔軟性を持って行うことができます。

4つのUARTはそれぞれ、帯域内のSPI/I²Cアドレス指定によって選択されます。トランシーバおよびコントローラインタフェース上のロジックレベルトランスレーションによって、異なる電源電圧によって動作するマイクロコントローラ、FPGA、およびトランシーバと容易にインタフェースすることができます。

多くの機能が、ハーフデュープレックス通信アプリケーションのトランシーバ制御を簡素化しています。MAX14830は、SPIベースのトリガ機能によって、個別のUARTの送信の開始を同期させる能力を備えています。内蔵タイマーによって、トランスミッタ間の遅延のプログラミングや、GPIOのクロック生成が可能です。

128ワードFIFOは、高度なFIFO制御を備えており、ホストプロセッサのデータフロー管理を軽減します。

MAX14830は、48ピンTQFNパッケージ(7mm x 7mm)で提供され、-40℃~+85℃の拡張温度範囲での動作が保証されています。
MAX14830:ファンクションダイアグラム MAX14830:ファンクションダイアグラム 拡大表示+

主な特長

  • SPI/MICROWIREまたはI2Cマイクロプロセッサバスと非同期インタフェース(RS-485、RS-232、またはIrDASMなど)間をブリッジ
    • SIRおよびMIR対応IrDAエンコーダ/デコーダ
    • ラインノイズ表示によってデータリンクの完全性を確保
  • 128ワードのディープバッファおよび自動制御機能によってマイクロコントローラ上のアクティビティをオフロード可能
    • 128ワード送信/受信FIFO (UART当り)
    • SPIコマンドによるトランスミッタ同期
    • アクティブローRTS_とアクティブローCTS_出力/入力を使用したハードウェアフローの自動制御
    • ソフトウェアフローの自動制御(XON/XOFF)
    • トランシーバ方向の自動制御
    • 設定可能なセットアップ/ホールド時間によるトランシーバ制御
    • トランスミッタの自動ディセーブル
    • ハーフデュプレックスエコー抑制
    • 9ビットマルチドロップモードデータフィルタリング
      • 特殊文字検出
      • GPIOベースの文字検出
      • GPIOに経路設定された4つのタイマー
      • 20mA駆動可能な16のフレキシブルなGPIO
  • 基板スペースを節約
    • TQFNパッケージ(7mm × 7mm)
  • 高速データレートによって全インタフェース規格でシステムの柔軟性を最大化
    • 16xサンプリングモードのデータレート:6Mbaud (max)
    • 2x/4xレートモードのデータレート:12/24Mbaud (max)
    • 高分解能の設定可能なボーレート
    • SPIのクロックレート:26MHz (max)
    • ファーストモードプラス(Pm+) I2C:1MHz (max)
  • 発振器の内蔵によって外部発振器を不要にしBOMコストを削減
    • フラクショナルボーレートジェネレータ、プリディバイダ、および位相ロックループ(PLL)
    • コントローラおよびトランシーバインタフェースのロジックレベル変換(最低1.61Vまで)によってシステム互換性を確保
    • MAX3107、MAX3108、MAX3109とレジスタ互換

アプリケーション/用途

  • 航空機通信バス
  • 産業用制御システム
  • IO-Linkマスターコントローラ
  • 医療用システム
  • POS (Point of Sale)システム
  • プログラマブルロジックコントローラ(PLC)

MAX14830EVKIT: MAX14830の評価キット
製品の信頼性レポート: MAX14830.pdf 
デバイス   ウェハープロセス   プロセス技術   サンプルサイズ   不合格   FIT (25°C)   FIT (55°C)   Material Composition  

注: 不良率はプロセス技術ごとにまとめられ、関連する型番にマッピングされます。 不良率はテストされたユニット数に大きく依存します。

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