73S8014BN

スマートカードインタフェース

STB/ペイパービュー限定受信アプリケーションに最適なスマートカードインタフェースIC


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説明

73S8014BNは、ISO 7816-3、EMV® 4.2、およびNDS仕様の完全電気準拠を提供するように設計されたシングルスマートカード(ICC)インタフェース回路です。業界標準電気インタフェースの73S8024RNからの派生製品ですが、1.8Vスマートカードアプリケーションへの対応が追加されています。73S8014BNは、セットトップボックスやA/Vの限定受信アプリケーションに適合するように最適化されています。この最適化によって、よりピン数の少ないデバイスが可能であると同時に、機能性が追加されます。内蔵可変PORを必要とするNDSアプリケーションについては、マキシムの73S8024RNシリーズのインタフェースICをご参照ください。

73S8014BNは、73S8024RNおよびその他ほとんどの8024タイプデバイスと同じバス(デジタルI/O)を通してホストプロセッサとインタフェースします。そのため、73S8014BNは従来の8024 ICよりもより魅力的なコスト削減の代替となります。

システムコントローラとのインタフェースは、73S8014BNを制御するためのデジタル入力、およびシステムコントローラにカードの存在、デバイスの準備状態、障害を知らせる一つの割込み出力で構成された制御バスで行われます。

カードクロックは、外付け水晶を使った内部オシレータによって、あるいは、外部で提供されるクロック信号に接続することで生成されます。さらに、クロック分周器は、1、2、4、および8の分周比を提供し、これらの値は単一端子で制御されます。

73S8014BNは、カード信号を制御するISO 7816-3活性化/非活性化シーケンサを内蔵しています。レベルシフタは、内部低ドロップアウト(LDO)電圧レギュレータからの選択されたカード電圧(1.8V、3V、または5V)で、カード信号を駆動します。このLDOレギュレータは、専用の電源入力VPCで駆動されます。デジタル回路はデジタル電源VDDで個別に駆動されます。73S8014BNは、LDOレギュレータを内蔵しているため、5V (-5% +10%、typ)の電源があるあらゆるアプリケーション用のコスト効率の良いソリューションです。

緊急カード非活性化は、カードを抜いたり、保護回路によって障害が検出されたときに開始されます。障害は、カード過電流、VCC低電圧、または電源障害(VDD)が考えられます。カード過電流回路は真の電流検出機能で、マキシム以外の8024インタフェースICによく実装されているVCC電圧降下検出に対抗します。

73S8014BNには各VDDおよびVPC電源で1µA (typ)の消費電力のパワーダウンモードがあります。パワーダウンモードは、専用の制御ピンが不要で、既存の制御ピンで制御されます。

73S8014BN:ファンクションダイアグラム 73S8014BN:ファンクションダイアグラム 拡大表示+

主な特長

  • カードインタフェース
    • ISO 7816-3、EMV 4.2、およびNDSに準拠
    • 最大65mAの3V/5Vカードおよび最大40mAの1.8Vカードに対応
    • ISO 7816-3活性化/非活性化シーケンサ
    • ハードウェア障害による自動非活性化(VDD電源降下またはカード過電流による)
    • 過電流検出:145mA (max)
    • 最大カードCLKクロック周波数:20MHz
  • システムコントローラインタフェース
    • 3つのデジタル入力でカード活性化/非活性化、カードリセット、パワーダウン、およびカード電圧を制御
    • 1つのデジタル入力でカードクロック周波数を制御
    • 1つのデジタル出力で、システムコントローラへ割込、カードの有無、デバイスの準備状態、および障害をホストにレポート
    • 水晶発振器またはホストクロック:最大27MHz
  • レギュレータ電源
    • 4.75V~5.5V (EMV 4.2)
    • 4.85V~5.5V (NDS)
  • デジタルインタフェース:2.7V~3.6V
  • カードインタフェースでの±6kV ESD保護
  • 20ピンSOパッケージ
  • RoHS準拠(6/6)/鉛(Pb)フリーパッケージ

アプリケーション/用途

  • 汎用スマートカードリーダ
  • ペイパービュー
  • セットトップボックス条件付きアクセスアプリケーション

技術資料

アプリケーションノート 4861 Replacing the 73S8024RN with the 73S8014BN

品質および環境データ

信頼性レポートをリクエスト: 73S8014BN 
鉛フリーパッケージの錫(Sn)のウィスカレポート
デバイス   ウェハープロセス   プロセス技術   サンプルサイズ   不合格   FIT (25°C)   FIT (55°C)  

注: 不良率はプロセス技術ごとにまとめられ、関連する型番にマッピングされます。 不良率はテストされたユニット数に大きく依存します。

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