DS28E07

1024ビット、1-Wire EEPROM

単一接点1-Wireインタフェースで動作する1KbシリアルEEPROM


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説明

DS28E07は、各256ビットの4メモリページとして構成された1024ビットの1-Wire® EEPROMチップです。データは、8バイトのスクラッチパッドに書き込まれ、確認されてからEEPROMメモリにコピーされます。特別な機能として、4つのユーザーメモリページを個別に書込み保護するか、またはビットを1から0状態にのみ変更可能なEPROMエミュレーションモードにすることができます。各デバイスは、出荷時にチップにプログラムされる保証された固有の64ビットROM識別番号(ROM ID)を備えています。通信は1-Wireプロトコルに従い、複数デバイスの1-Wireネットワークの場合はROM IDがノードアドレスの役割を果たします。

DS28E07:ブロックダイアグラム DS28E07:ブロックダイアグラム 拡大表示+

主な特長

  • メモリの分割によってユーザーデータ書込みのさらなる柔軟性を提供
    • 256ビット x 4ページで構成された1024ビットのEEPROMメモリ
    • 各メモリページは永続的に書込み保護またはEPROMエミュレーションモード(書込みで0)にすることが可能
  • 高度な1-Wireプロトコルによってインタフェースをわずか1つのIOに最小化し、必要な端子数の削減と信頼性の向上を実現
    • 出荷時プログラムされる固有の、変更不可能な64ビットID番号
    • スイッチポイントのヒステリシスとフィルタ処理によってノイズがある状態での性能を最適化
    • 1-Wireプロトコルを使用して1つのデジタル信号によって15.4kbpsまたは125kbpsでホストと通信
    • 広い電圧範囲にわたる読み書き:3.0V~5.25V (-40℃~+85℃)
    • IO端子のESD保護:±8kV HBM (typ)

アプリケーション/用途

  • アクセサリ/プリント基板の識別
  • 消耗品のアフターマーケット管理
  • IEEE P1451.4スマートセンサーなどのアナログセンサー較正
  • インクおよびトナープリントカートリッジID
  • 医療用センサキャリブレーションデータストレージ
Part NumberApplicationsMemory TypeMemory SizeBus TypeVSUPPLY
(V)
VSUPPLY
(V)
Package/PinsBudgetary
Price
minmaxSee Notes
DS28E07 
Asset Tracking
Inventory
Medical Consumable ID
PCB ID and Authentication
Peripheral ID and Control
Print Cartridge Authentication
Rack Card ID
Security
EEPROM1K x 11-Wire35.25
TDFN/6
TO92/3
TSOC/6
$0.55 @1k
全Memory (EPROM, EEPROM, ROM, NV SRAM) (47)
価格についての注:
このページに掲載された価格は、類似製品と比較するための参考価格です。価格は米国ドルで表記されており変更されることがあります。購入数によって価格は大幅に変わることがあり、米国以外での価格は各地域の関税、税金、手数料、および為替レートによって異なることがあります。購入数やバージョンが確定されている場合の価格および在庫状況については、購入に関するページを参照いただくか正規代理店までお問い合わせください。

技術資料

アプリケーションノート 6891 Secure Authentication for Medical Disposables
アプリケーションノート 6755 Wirelessly Powering and Accessing a 1-Wire Network
アプリケーションノート 4717 コネクタまたは家電品へのICの射出成形
チュートリアル 4702 医療センサーと消耗品にメモリ、セキュリティ、モニタリング、および制御機能を容易に追加
チュートリアル 1796 1-Wire技術の概要とその使用法
チュートリアル 148 Guidelines for Reliable Long Line 1-Wire Networks

品質および環境データ

信頼性レポートをリクエスト: DS28E07 
鉛フリーパッケージの錫(Sn)のウィスカレポート

CAD Symbols and Footprints

  • DS28E07+
  • DS28E07+T
  • DS28E07P+
  • DS28E07P+T
  • DS28E07Q+T
  • DS28E07Q+U
  • デバイス   ウェハープロセス   プロセス技術   サンプルサイズ   不合格   FIT (25°C)   FIT (55°C)  

    注: 不良率はプロセス技術ごとにまとめられ、関連する型番にマッピングされます。 不良率はテストされたユニット数に大きく依存します。

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    関連リソース