DS1977

iButton 32KB EEPROM


製品の特定バージョンの最新供給状況はこちらでご確認ください。

説明

iButton® 32KB EEPROM (DS1977)は、読取り専用およびフルアクセス用ともにパスワードで保護されたデータへのアクセスを提供します。データは、シングルデータ線とグランドリターンのみからなる1-Wire®プロトコルによってシリアル転送されます。各DS1977には、完全なトレーサビリティを保証する固有の64ビット登録番号が出荷時にレーザ書込みされます。堅牢なステンレススチールiButtonパッケージは、ほこり、湿気、衝撃などの環境障害に対して高い耐性があります。アクセサリを使用して、コンテナ、パレット、およびバッグなどほぼすべての対象物にDS1977を取り付けることができます。

主な特長

特長
  • 各64バイトのページから成る32KB EEPROM
  • 読取りおよびフルアクセス用の各64ビットパスワードによるオプションのパスワード保護
  • 1-Wireプロトコルによって標準速度最高15.3kbpsまたはオーバドライブモード最高125kbpsで、単一デジタル信号によってホストと交信
  • 動作範囲:2.8V~5.25V、-40℃~+85℃
  • 書込み保証サイクル数:最低10万回
  • 15kVの内蔵ESD保護
共通のiButton機能
  • 出荷時レーザ書込みされた固有の64ビット登録番号によって、同一製品がないため、エラーのないデバイス選択と完全なトレーサビリティを実現
  • 1-Wireネット用マルチドロップコントローラ内蔵
  • チップベースのデータキャリアが、堅牢なステンレススチールケースに保護されたデジタル識別/情報を保存
  • 対象物に取り付けられていてもデータにアクセス可能
  • カップ形プローブによってボタンを自動配置調整
  • 接着裏材によって容易に貼り付け、フランジでラッチし、リングをリムに押し付けてロック可能
  • リーダが最初に電圧を印加した時刻をプレゼンス検出器が通知

アプリケーション/用途

  • データストレージおよびキャリアの検査
  • 健康用データ記憶媒体
  • メンテナンス/検査データストレージ
  • 医療用データ記憶媒体
Part NumberTechnologyApplicationsMemory TypeMemory SizeSecurity FeaturesUnique WareReal Time ClockBudgetary
Price
See Notes
DS1977 iButtonAsset ManagementEEPROM32K BytesPassword ProtectedNoNo$8.80 @1k
全iButton Products (17)
価格についての注:
このページに掲載された価格は、類似製品と比較するための参考価格です。価格は米国ドルで表記されており変更されることがあります。購入数によって価格は大幅に変わることがあり、米国以外での価格は各地域の関税、税金、手数料、および為替レートによって異なることがあります。購入数やバージョンが確定されている場合の価格および在庫状況については、購入に関するページを参照いただくか正規代理店までお問い合わせください。

技術資料

カタログ 7011 iButtonデータロガー
アプリケーションノート 6755 Wirelessly Powering and Accessing a 1-Wire Network
アプリケーションノート 5507 合成可能1-Wire®バスマスターのDS1WMについて理解する
リファレンス回路図 4477 1.8Vから5Vへの1-Wire®双方向電圧レベル変換器のリファレンスデザイン
アプリケーションノート 4421 DS1991LマルチキーiButton®の代替製品
チュートリアル 4255 1-Wire®デバイスの拡張機能に対する給電方法
アプリケーションノート 3808 iButtonデバイスとは
アプリケーションノート 159 iButton®アプリケーションで堅牢な1-Wire®通信を実現するためのソフトウェア手法
アプリケーションノート 155 1-Wireソフトウェアリソースガイドデバイス解説
チュートリアル 148 Guidelines for Reliable Long Line 1-Wire Networks
アプリケーションノート 114 1-Wire File Structure
アプリケーションノート 74 Reading and Writing 1-Wire® Devices Through Serial Interfaces

品質および環境データ

製品の信頼性レポート: DS1977.pdf 
鉛フリーパッケージの錫(Sn)のウィスカレポート
デバイス   ウェハープロセス   プロセス技術   サンプルサイズ   不合格   FIT (25°C)   FIT (55°C)  

注: 不良率はプロセス技術ごとにまとめられ、関連する型番にマッピングされます。 不良率はテストされたユニット数に大きく依存します。

品質管理システム >
環境管理システム >

 
Status:
Package:
Temperature:

関連リソース