DS1922E

8KBデータログメモリ内蔵、iButton高温度ロガー

140℃まで測定およびログを行う、業界最小、低コストスタンドアロンデータロガー


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説明

iButton®高温度ロガー(DS1922E)は、温度を測定し、その結果を保護されたメモリ領域に記録する堅牢な自己完結システムです。記録はユーザ定義の速度で行われます。1秒~273時間の等間隔で取得された、合計8192個の8ビットの読取り値、または合計4096個の16ビット読取り値を格納することができます。さらに、576バイトSRAMがアプリケーション固有の情報を格納します。データ収集の指令は、即座に、ユーザ定義の遅延後、または温度アラームの後に開始するように設定することができます。メモリおよび制御機能へのアクセスはパスワード保護することができます。DS1922Eは、単一のデータ線とグランドリターンのみを必要とするシリアル1-Wire®プロトコルを介して設定され、ホストコンピューティングデバイスと通信します。各DS1922Eは、完全なトレーサビリティが可能な保証された固有の64ビット登録番号が出荷時にレーザ書込みされます。堅牢なステンレススチールパッケージは、ほこり、湿気、および衝撃などの環境障害に対して高い耐性を備えています。

すべてのiButtonデータロガーはNIST規格で追跡可能なリファレンスデバイスに対して較正/立証されていますが、マキシムではDS1922L/Tデータロガーのために証明書を発行するウェブアプリケーションを提供しています。iButton登録番号(または番号リスト)を入力すると、PDF形式で証明書が出力されます。
DS1922E:ブロックダイアグラム DS1922E:ブロックダイアグラム 拡大表示+

主な特長

  • 高精度、全機能内蔵デジタル温度ロガーによって温度データの収集および電子的な温度記録の配布を簡素化
    • 温度精度:±1.5℃ (+110℃~+140℃)、±7℃ (typ) (+15℃~+110℃)
    • 温度測定の分解能:8ビット(0.5℃)または11ビット(0.0625℃)
    • 動作温度範囲:+15℃~+140℃
    • 自動ウェイクアップおよび温度測定、8KBのデータログメモリに8または16ビット形式で値を保存
    • サンプリングレート:1秒~273時間
    • 設定可能な高温および低温のトリップポイントによる温度アラーム
    • 設定可能な記録開始遅延(経過時間終了後または温度アラームトリップポイント時)
    • 576バイトの汎用メモリ
    • 全メモリおよび設定レジスタの2レベルのパスワード保護
  • 過酷な環境に耐える堅牢な構造
    • 耐水性またはDS9107 iButtonカプセル内に設置した場合は防水性(3気圧防水の要件を上回る性能)
  • 簡素なシリアルポートによってほとんどのマイクロコントローラと接続して迅速なデータ転送が可能
  • 1-Wireプロトコルを使用して1つのデジタル信号によって最大15.4kbps (標準速度)または最大125kbps (オーバードライブモード)でホストと通信
  • 1-Wireの条件検索機能を介してアラーム発生デバイスへの素早いアクセスが可能

アプリケーション/用途

  • 高温ロギング(プロセスの監視、工業用温度の監視)
  • 蒸気滅菌
Part NumberInterfaceTechnologyApplicationsUsageMemory TypeMemory SizeData Logger TypeTemp. ReadingsOper. Temp.
(°C)
Budgetary
Price
See Notes
DS1922E 1-WireiButton
Asset Management
Autoclave
Sterilization
Multi UseSRAM512 BytesTemperature8192+15 to +140$90.18 @1k
全Data Loggers (9)
価格についての注:
このページに掲載された価格は、類似製品と比較するための参考価格です。価格は米国ドルで表記されており変更されることがあります。購入数によって価格は大幅に変わることがあり、米国以外での価格は各地域の関税、税金、手数料、および為替レートによって異なることがあります。購入数やバージョンが確定されている場合の価格および在庫状況については、購入に関するページを参照いただくか正規代理店までお問い合わせください。

デバイス   ウェハープロセス   プロセス技術   サンプルサイズ   不合格   FIT (25°C)   FIT (55°C)  

注: 不良率はプロセス技術ごとにまとめられ、関連する型番にマッピングされます。 不良率はテストされたユニット数に大きく依存します。

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