MAX2032

LOバッファ/スイッチ内蔵、高リニアリティ、650MHz~1000MHzアップコンバージョン/ダウンコンバージョンミキサ

優れたIIP3、2LO - 2RF、およびLO ±2IF性能を特長とする全機能内蔵SiGeパッシブミキサ


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説明

高リニアリティパッシブアップコンバータまたはダウンコンバータミキサのMAX2032は、650MHz~1000MHzのRF周波数範囲に対して、+33dBm IIP3、7dB NF、および7dBの変換損失で多数の基地局アプリケーションをサポートするように設計されています。このミキサは、650MHz~1250MHzのLO周波数範囲を備えており、特にハイサイドLOインジェクションアーキテクチャに最適です。ローサイドLOインジェクション用のピンコンパチブルミキサについては、MAX2029をご参照ください。

優れたリニアリティとノイズ性能に加えて、MAX2032は高度な部品集積化を実現しています。このデバイスは、ダブルバランスドパッシブミキサコア、デュアル入力LO選択可能スイッチ、およびLOバッファを内蔵しています。また、バランも内蔵しているため、ダウンコンバージョン用のシングルエンドRF入力(またはアップコンバージョン用のRF出力)とシングルエンドLO入力が可能です。MAX2032は、公称0dBmのLOドライブを必要とし、消費電流は100mA未満になることが保証されています。

MAX2032は1700MHz~2200MHzのミキサであるMAX2039/MAX2041とピンコンパチブルであるため、このパッシブアップコンバータおよびダウンコンバータのファミリは両方の周波数帯域に共通のPCBレイアウトが使用されるアプリケーションに最適です。

MAX2032は、エクスポーズドパッドを備えた小型20ピンTQFNパッケージ(5mm x 5mm)で提供されます。電気的性能は、-40℃~+85℃の拡張温度範囲で保証されています。
MAX2032:標準アプリケーション回路 MAX2032:標準アプリケーション回路 拡大表示+

主な特長

  • RF周波数範囲:650MHz~1000MHz
  • LO周波数範囲:650MHz~1250MHz
  • LO周波数範囲:570MHz~900MHz (MAX2029のデータシートを参照)
  • IF周波数範囲:DC~250MHz
  • 変換損失:7dB
  • 入力IP3:+33dBm
  • 入力1dB圧縮ポイント:+24dBm
  • ノイズ指数:7dB
  • LOバッファ内蔵
  • RFおよびLOバラン内蔵
  • 低LOドライブ:-3dBm~+3dBm
  • LO1-LO2間アイソレーショが49dBでスイッチング時間が50nsのSPDT LOスイッチ内蔵
  • 1700MHz~2200MHzミキサのMAX2039/MAX2041とピンコンパチブル
  • 外付け電流設定抵抗によってミキサの低電力/性能低下モード動作を選択可能

アプリケーション/用途

  • デジタルおよびスペクトラム拡散通信システム
  • GSM 850/GSM 900 2Gおよび2.5G EDGE基地局
  • Integrated Digital Enhanced Network (iDEN®)基地局
  • マイクロ波および固定ブロードバンド無線アクセス
  • プリディストーションレシーバ
  • WCDMA/LTEおよびcdma2000®基地局
  • WiMAX基地局および顧客宅内機器
  • ワイヤレスローカルループ

Pricing Notes:
This pricing is BUDGETARY, for comparing similar parts. Prices are in U.S. dollars and subject to change. Quantity pricing may vary substantially and international prices may differ due to local duties, taxes, fees, and exchange rates. For volume-specific and version-specific prices and delivery, please see the price and availability page or contact an authorized distributor.
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デバイス   ウェハープロセス   プロセス技術   サンプルサイズ   不合格   FIT (25°C)   FIT (55°C)   Material Composition  

注: 不良率はプロセス技術ごとにまとめられ、関連する型番にマッピングされます。 不良率はテストされたユニット数に大きく依存します。

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