MAX2031

LOバッファ/スイッチ付き、高リニアリティ、650MHz~1000MHzアップコンバージョン/ダウンコンバージョンミキサ


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説明

MAX2031は高直線性のパッシブアップコンバータ/ダウンコンバータミキサであり、650MHz~1000MHzのRF周波数範囲に対して+36dBm IIP3、7dB NF、および7dBのコンバージョンロスで、GSM/携帯電話基地局トランスミッタまたはレシーバアプリケーションをサポートするよう設計されています。650MHz~1250MHzのLO周波数範囲のため、このミキサはハイサイドLOインジェクションアーキテクチャに最適です。ローサイドLOインジェクション用のピンコンパチブルミキサについては、MAX2029をご覧ください。

MAX2031は優れた直線性とノイズ性能を備えているだけでなく、高度な部品集積も実現しています。このデバイスは、ダブルバランスパッシブミキサコア、デュアル入力LO選択可能スイッチ、およびLOバッファを内蔵しています。またバランも内蔵しているため、ダウンコンバージョン用のシングルエンドRF入力(またはアップコンバージョン用RF出力)とシングルエンドLO入力が可能です。MAX2031は0dBmの公称LOドライブを必要とし、消費電流は100mA未満になることが保証されています。

MAX2031は1700MHz~2200MHzのミキサであるMAX2039/MAX2041とピンコンパチブルであるため、このパッシブアップコンバータ/ダウンコンバータのファミリは共通のPCBレイアウトを両周波数帯域に使用するアプリケーションに最適です。

MAX2031は、エクスポーズドパッド付きの20ピン小型TQFNパッケージ(5mm x 5mm)で提供されます。電気的性能は、拡張温度範囲(-40℃~+85℃)で保証されています。
MAX2031:標準アプリケーション回路 MAX2031:標準アプリケーション回路 拡大表示+

主な特長

  • RF周波数範囲:650MHz~1000MHz
  • LO周波数範囲:650MHz~1250MHz
  • LO周波数範囲:570MHz~900MHz (MAX2029のデータシートをご覧ください)
  • IF周波数範囲:DC~250MHz
  • コンバージョンロス:7dB
  • 入力IP3:+36dBm
  • 入力1dB圧縮ポイント:+27dBm
  • ノイズ指数:7dB
  • LOバッファ内蔵
  • RFおよびLOバラン内蔵
  • 低LOドライブ:-3dBm~+3dBm
  • LO1/LO2間アイソレーションが49dBで、スイッチング時間が50nsのSPDT LOスイッチを内蔵
  • 1700MHz~2200MHzミキサのMAX2039/MAX2041とピンコンパチブル
  • 外付け電流設定抵抗によってミキサの電力/性能低下モード動作を選択可能

アプリケーション/用途

  • 通信システム
  • デジタルおよびスペクトラム拡散
  • GSM 850/GSM 900 2Gおよび2.5G EDGE基地局
  • Integrated Digital Enhanced Network (iDEN®)基地局
  • マイクロ波および固定ブロードバンド無線アクセス
  • プリディストーションレシーバ
  • WCDMA/LTEおよびcdma2000®基地局
  • WiMAX基地局および顧客宅内機器
  • ワイヤレスローカルループ

Pricing Notes:
This pricing is BUDGETARY, for comparing similar parts. Prices are in U.S. dollars and subject to change. Quantity pricing may vary substantially and international prices may differ due to local duties, taxes, fees, and exchange rates. For volume-specific and version-specific prices and delivery, please see the price and availability page or contact an authorized distributor.

MAX2031EVKIT: MAX2031の評価キット
製品の信頼性レポート: MAX2031.pdf 
デバイス   ウェハープロセス   プロセス技術   サンプルサイズ   不合格   FIT (25°C)   FIT (55°C)   Material Composition  

注: 不良率はプロセス技術ごとにまとめられ、関連する型番にマッピングされます。 不良率はテストされたユニット数に大きく依存します。

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