MAX2991

電力線通信(PLC)、高集積アナログフロントエンドトランシーバ

周波数範囲10kHz~490kHzで使用される最新式の電力線通信アナログフロントエンド


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説明

電力線通信アナログフロントエンド(AFE)のMAX2991は、システムのトータルコストを削減しながら、高集積と優れた性能を達成する最先端の集積回路です。MAX2991は、電力線上でのOFDM (直交周波数分割多重)変調信号の伝送用として特に設計された初のAFEです。10kHz~490kHzの帯域で動作する、設定可能なフィルタによって、同じデバイスを使用してCENELEC、FCC、およびARIB規格に準拠することができます。

MAX2991トランシーバは、送信(Tx)と受信(Rx)パスの2つのメイン経路を提供します。送信パスは、OFDM変調信号をACまたはDCラインに注入します。この送信パスは、ディジタルIIRフィルタ、ディジタル-アナログコンバータ(DAC)、それに続くローパスフィルタ、およびプリラインドライバで構成されています。受信パスは、受信信号の信号強調、フィルタリング、およびディジタル化用です。レシーバは、ローパスおよびハイパスフィルタ、2段自動利得制御(AGC)、およびアナログ-ディジタルコンバータ(ADC)で構成されています。内蔵のAGCは、信号のダイナミックレンジを60dBまで最大化するのに対し、ローパスフィルタはあらゆる帯域外ノイズを除去し、必要な周波数帯域を選択します。ADCは、強調および増幅した入力信号をディジタル形式に変換します。内蔵のオフセットキャンセレーションループは、DCオフセットを最小化します。

MAX2991は、PLCベースバンドモデムのMAX2990と組み合わせて、市場における電力線ネットワーク上で最もコスト効率の高いデータ通信のソリューションを達成します。MAX2991は、-40℃~+85℃の温度範囲での動作が保証され、48ピンLQFPパッケージで提供されます。
MAX2991:ブロックダイアグラム MAX2991:ブロックダイアグラム 拡大表示+

主な特長

  • MAX2990 PLCベースバンドでの動作用に最適化
  • Rxパス用の帯域選択フィルタ、AGC、および10ビットADC内蔵
  • Txパス用の波形整形フィルタ、設定可能なプリドライバ利得、10ビットDAC内蔵
  • 可変サンプリングレート:1.2Msps (max)
  • 60dBダイナミックレンジAGCおよびDCオフセットキャンセレーション内蔵
  • 設定可能なフィルタ:CENELEC、FCC、およびARIB周波数帯域で動作
  • 単一電源:3.3V
  • 標準消費電流:70mA (ハーフデュプレックスモード)
  • 拡張動作温度範囲

アプリケーション/用途

  • 自動メータ読取り器
  • ビルオートメーション
  • 暖房、換気、および空調(HVAC)
  • ホームオートメーション
  • 産業用オートメーション
  • 照明制御
  • 遠隔監視および制御
  • セキュリティシステム/キーレスエントリ
  • センサ制御およびデータ収集
  • スマートグリッド
Part NumberFrequency BandData Rate
(Mbps)
ComplianceInterfaceCompatibilityFunctionsPackage/PinsOper. Temp.
(°C)
max
MAX2991 10kHz to 490kHz0.1ARIBSeamless Interface to Digital PHY ICsG3-PLCNarrowband AFE
LQFP/48
-40 to +85
全Powerline Communications (6)
価格についての注:
このページに掲載された価格は、類似製品と比較するための参考価格です。価格は米国ドルで表記されており変更されることがあります。購入数によって価格は大幅に変わることがあり、米国以外での価格は各地域の関税、税金、手数料、および為替レートによって異なることがあります。購入数やバージョンが確定されている場合の価格および在庫状況については、購入に関するページを参照いただくか正規代理店までお問い合わせください。


MAX2990EVKIT: MAX2990およびMAX2991の評価キット

CAD Symbols and Footprints

  • MAX2991ECM+
  • MAX2991ECM+T
  • MAX2991ECM+TW
  • MAX2991ECM+W
  • デバイス   ウェハープロセス   プロセス技術   サンプルサイズ   不合格   FIT (25°C)   FIT (55°C)  

    注: 不良率はプロセス技術ごとにまとめられ、関連する型番にマッピングされます。 不良率はテストされたユニット数に大きく依存します。

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