MAX3955

11.32Gbpsトランシーバ、デュアルCDR、デジタルモニタ、およびDC結合レーザドライバ内蔵

1W SFP+ Sonet OC-192アプリケーションを実現


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説明

MAX3955は、次世代SONET伝送システム向けに設計されたデュアルCDR、およびデジタル診断監視(DDM)機能内蔵の、11.3Gbps、高集積、低電力トランシーバです。レシーバは、ロスオブシグナル(LOS)回路を備えたリミティングアンプを内蔵しています。このリミティングアンプは、独立した9.95Gbps~11.32Gbps CDRを備えています。トランスミッタは、マキシム独自のDC結合レーザドライバインタフェース、独立した9.95Gbps~11.32Gbps CDR、および平均レーザパワーのクローズドループ制御を備えています。

MAX3955は、Rx入力、Rx出力、およびTx入力において50Ω終端を内蔵した差動AC結合信号をサポートしています。Tx出力は、レーザアノード(TOUTA)とレーザカソード(TOUTC)のための専用端子を備えたDC結合の25Ωレーザダイオードインタフェースです。

内部/外部温度、VCC、および受信信号強度表示(RSSI)のデジタルモニタを提供するために、内蔵の12ビットアナログ-デジタルコンバータ(ADC)が利用されています。MAX3955のアナログモニタとともに2線式または3線式スレーブインタフェースの使用によって、デジタル専用マイクロコントローラ(µC)、またはSFP+コントローラのDS1978 (開発中の製品)から設定可能になります。

MAX3955は、+3.3Vの単一電源によって-40℃~+95℃の温度範囲で動作し、標準32ピンTQFN-EPパッケージ(5mm x 5mm)で提供されます。

MAX3955:簡易ブロックダイアグラム MAX3955:簡易ブロックダイアグラム 拡大表示+

主な特長

    高性能
    • 7MHzのPLL帯域幅設定でSONETジッタ要件を上回るデュアルCDR
    • ICの消費電力:540mW (typ、ILD_MOD = 45mA、IBIAS = 45mA、両方のCDRがイネーブル時)
    柔軟性
    • 独立した、リファレンスなしのTxおよびRx CDR
    • 受信および送信経路用のパターンジェネレータ
    • 信号ループバック経路
    • 設定可能なTx入力イコライゼーションとRx出力デエンファシス
    • 11.3GbpsトランシーバのMAX3956とピンコンパチブル
    セーフティと監視
    • マスク可能なフォルトと割込み信号生成を備えたアイセーフティ機能内蔵
    • アナログモニタ:12ビットADC内蔵、デジタル専用µCでSFF-8472 DDMに完全対応
    • 高精度の温度、VCC、およびRSSIモニタ
    • BADCの汎用の補助ADC入力

アプリケーション/用途

  • OC-192 XFPおよびSFP+光トランシーバ
Part NumberApplicationsTarget Oper. Range
(Gbps)
Data Rate
(Mbps)
Data Rate
(Mbps)
VSUPPLY
(V)
ICC
(mA)
I/O TypeIMOD
(mA)
IBIAS
(mA)
Package/PinsOper. Temp.
(°C)
minmaxtypmaxmax
MAX3955 
10G Ethernet
Fibre Channel
SFP+
SONET/SDH
1.25 to 11.39950113003.3165CML85100
THIN QFN/32
-40 to +95
全Optical Transceivers (8)
価格についての注:
このページに掲載された価格は、類似製品と比較するための参考価格です。価格は米国ドルで表記されており変更されることがあります。購入数によって価格は大幅に変わることがあり、米国以外での価格は各地域の関税、税金、手数料、および為替レートによって異なることがあります。購入数やバージョンが確定されている場合の価格および在庫状況については、購入に関するページを参照いただくか正規代理店までお問い合わせください。

技術資料

アプリケーションノート 5888 Recommended Initialization Sequence for the MAX3955 and MAX3956 Devices

品質および環境データ

製品の信頼性レポート: MAX3955.pdf 
鉛フリーパッケージの錫(Sn)のウィスカレポート

CAD Symbols and Footprints

  • MAX3955ETJ+
  • MAX3955ETJ+T
  • デバイス   ウェハープロセス   プロセス技術   サンプルサイズ   不合格   FIT (25°C)   FIT (55°C)  

    注: 不良率はプロセス技術ごとにまとめられ、関連する型番にマッピングされます。 不良率はテストされたユニット数に大きく依存します。

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    関連リソース

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    アプリケーションノート 5888 Recommended Initialization Sequence for the MAX3955 and MAX3956 Devices