MAX3865


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技術資料

アプリケーションノート 274 HFAN-02.0: Interfacing Maxim Laser Drivers with Laser Diodes

品質および環境データ

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鉛フリーパッケージの錫(Sn)のウィスカレポート
デバイス   ウェハープロセス   プロセス技術   サンプルサイズ   不合格   FIT (25°C)   FIT (55°C)  

注: 不良率はプロセス技術ごとにまとめられ、関連する型番にマッピングされます。 不良率はテストされたユニット数に大きく依存します。

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評価ボード3329MAX3865EVKIT MAX3865の評価キット