DS1875

PONトライプレクサおよびSFPコントローラ

光ファイバモジュール用、APDブーストコンバータ内蔵、次世代PON/SFPコントローラ


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説明

DS1875は、バーストモードトランスミッタ、APDレシーバ、およびビデオレシーバの全機能の制御と監視を行います。また、このデバイスは、APDバイアス生成用の電源コントローラを備え、すべてのSFF-8472診断および監視機能を提供します。DS1875とレーザドライバMAX3643を組み合わせたソリューションは、APCループ、変調電流制御、およびアイセーフティ機能を提供します。10個のADCチャネルがVCC、温度(両方とも内部信号)、および8つの外部モニタ入力(MON1~MON8)を監視し、これらを使用してトランスミッタ、ディジタルレシーバ、ビデオレシーバ、およびAPDレシーバ信号監視要件に適合させることができます。合計4つのDAC出力が利用可能です。フィードバックおよび補償端子を備えたPWMコントローラを使って、APD用バイアス生成することができ、ステップダウンコンバータとして使用することもできます。5つのI/O端子を使用して、監視と設定を追加することができます。
DS1875:標準動作回路 DS1875:標準動作回路 拡大表示+

主な特長

  • バーストモード動作のすべてのPONバーストタイミング要件に適合
  • APCループおよび温度ルックアップテーブル(LUT)によるレーザバイアス制御
  • 温度LUTによるレーザ変調制御
  • 合計6つのDAC:4つ(外部)、2つ(内部)
  • 2つの8ビットDAC:1つはMON4電圧によって制御(オプション)
  • 温度指標LUTによる内部8ビットDAC制御
  • PWMコントローラ
  • ブーストモードまたはバックモード
  • ブーストモード:オプションの外付け部品を使用し、最大90Vまでバイアス生成
  • 選択可能なスイッチング周波数:131kHz、262kHz、525kHz、または1050kHz
  • オプションの高速シャットダウンを使用してAPD過電流保護
  • 10個のアナログモニタチャネル:温度、VCC、8つのモニタ
  • 出荷時較正済みの温度センサ内蔵
  • 29dBの電気的ダイナミックレンジを備えたRSSI
  • 5つのI/O端子によって追加される制御および監視機能のうち、4つはディジタルI/Oまたはアナログモニタ
  • マスク可能なレーザシャットダウン機能を備えた包括的なフォルト測定システム
  • 2レベルのパスワードアクセスによってキャリブレーションデータを保護
  • 120バイトのパスワード-1で保護されたメモリ
  • 128バイトのパスワード-2で保護されたメインデバイスアドレスのメモリ
  • 256追加バイトをA0hのスレーブアドレスに格納
  • キャリブレーションおよび監視用のI²C対応インタフェース
  • 動作電圧範囲:2.85V~3.9V
  • 動作温度範囲:-40℃~+95℃
  • 5mm x 7mmの38ピンTQFNパッケージ

アプリケーション/用途

  • APDコントローラ
  • BPON、GPON、またはEPON光トライプレクサ
  • SFF、SFP、およびSFP+トランシーバモジュール
Part NumberADCsResolution
(bits)
DACs/ ResistorsFS Out
(kΩ)
StepsTemp. SensorMemoryVSUPPLY
(V)
Control InterfacePackage/Pins
DS1875 10-Input Muxable134 DACsNone256 or 4096InternalEEPROM2.85 to 3.9I2C
TQFN/38
全Fiber Monitoring and Control (19)
価格についての注:
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技術資料

アプリケーションノート 4464 DS1875 Quick Reference Guide
アプリケーションノート 4463 非線形APD応答の補償
チュートリアル 4332 How to Design an Efficient DC-DC Converter Using the DS1875 PWM Controller
アプリケーションノート 4222 DS1863、DS1865、DS1875:コンパクトレーザドライバMAX3736とインタフェースする方法

品質および環境データ

製品の信頼性レポート: DS1875.pdf 
鉛フリーパッケージの錫(Sn)のウィスカレポート

CAD Symbols and Footprints

  • DS1875RT+
  • DS1875RT+T&R
  • DS1875T+
  • DS1875T+T&R
  • デバイス   ウェハープロセス   プロセス技術   サンプルサイズ   不合格   FIT (25°C)   FIT (55°C)  

    注: 不良率はプロセス技術ごとにまとめられ、関連する型番にマッピングされます。 不良率はテストされたユニット数に大きく依存します。

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    関連リソース

    種類 ID PDF タイトル
    アプリケーションノート 4464 DS1875 Quick Reference Guide
    アプリケーションノート 4463 非線形APD応答の補償
    チュートリアル 4332 How to Design an Efficient DC-DC Converter Using the DS1875 PWM Controller
    アプリケーションノート 4222 DS1863、DS1865、DS1875:コンパクトレーザドライバMAX3736とインタフェースする方法