DS1864

SFPレーザコントローラおよび診断IC


製品の特定バージョンの最新供給状況はこちらでご確認ください。

説明

DS1864は、SFP光トランシーバモジュールの設計に最適なSFF-8472マルチソース協定(MSA)準拠のレーザコントローラ/モニタです。このデバイスは、温度制御された電流シンクDACのペアによって、レーザドライバのバイアス電流および変調電流を制御します。3個のアナログ入力、VCC、および内部温度センサによる温度の監視によってシステム診断が行われます。また、このデバイスは、A0hやA2h EEPROMなどSFF-8472 MSAに必要とされるすべてのEEPROMを内蔵しています。DS1864のメモリマップは、DS1852/DS1856およびDS1859のメモリマップと互換になるように構成することができます。また、メモリは、カスタマが設定可能な2レベルのパスワード保護によってセキュリティ保護されます。

送信パワーハイ、送信パワーロー、およびバイアス電流を監視する3つの高速トリップコンパレータによるアイセーフティ機能が内蔵されています。高速トリップコンパレータは、アイセーフティが侵害された場合に、FETドライバ出力を駆動し、レーザをディセーブルします。

内蔵のレーザドライバ制御、システム診断、アイセーフティ機能、および内部温度センサを備えて、DS1864は、システム性能の向上、基板面積の縮小、および設計の簡素化によるSFP光トランシーバモジュールに最適なソリューションを提供します。
DS1864:標準動作回路 DS1864:標準動作回路 拡大表示+

主な特長

  • SFF-8472 MSAに準拠
  • 5個の監視対象チャネル(温度、VCC、MON1、MON2、MON3)
    • 3個の外部アナログ入力(MON1、MON2、MON3)は、内部および外部較正をサポート
    • 増強されたRSSI監視(範囲26dB、精度0.5dB)
    • 外部アナログ入力用のスケーラブルなダイナミックレンジ
    • すべての監視対象チャネル用の内部ダイレクト-ディジタル温度センサアラームおよび警告フラグ
  • 2個のリニア8ビット電流シンクDAC
    • 2種のユーザが選択可能なフルスケール範囲(0.5mAまたは1.5mA)
    • 2℃ごとに変更可能な値
  • 眼の安全用の3個の高速トリップコンパレータ(Txパワーハイ、Txパワーロー、およびバイアス電流)
  • フレキシブルな2レベルのパスワード方式は、3レベルのセキュリティを提供
  • すべてのオプションおよび必須SFF-8472 MSA EEPROM (A0hおよびA2hメモリ)を提供
  • I²C対応のシリアルインタフェース
  • 3.3Vまたは5V電源で動作
  • 動作温度範囲:-40℃~+95℃
  • 28ピンTQFNパッケージ(5mm x 5mm)

アプリケーション/用途

  • レーザ制御および監視
  • SFP光トランシーバモジュール
Part NumberADCsResolution
(bits)
DACs/ ResistorsTemp. SensorMemoryVSUPPLY
(V)
Control InterfacePackage/PinsBudgetary
Price
See Notes
DS1864 5-Input Muxable82 DACsInternalEEPROM
3.3
5
I2C
TQFN/28
$3.02 @1k
全Fiber Monitoring and Control (19)
価格についての注:
このページに掲載された価格は、類似製品と比較するための参考価格です。価格は米国ドルで表記されており変更されることがあります。購入数によって価格は大幅に変わることがあり、米国以外での価格は各地域の関税、税金、手数料、および為替レートによって異なることがあります。購入数やバージョンが確定されている場合の価格および在庫状況については、購入に関するページを参照いただくか正規代理店までお問い合わせください。

技術資料

アプリケーションノート 4157 DS1864を使用したAPD用の高度RSSI較正
チュートリアル 4075 DS1864の電流DACを電圧DACとして使う方法
アプリケーションノート 3953 Side-by-Side Comparison of Fiber-Monitoring and Control ICs

品質および環境データ

製品の信頼性レポート: DS1864.pdf 
鉛フリーパッケージの錫(Sn)のウィスカレポート
デバイス   ウェハープロセス   プロセス技術   サンプルサイズ   不合格   FIT (25°C)   FIT (55°C)  

注: 不良率はプロセス技術ごとにまとめられ、関連する型番にマッピングされます。 不良率はテストされたユニット数に大きく依存します。

品質管理システム >
環境管理システム >

 
Status:
Package:
Temperature:

関連リソース

種類 ID PDF タイトル
アプリケーションノート 4157 DS1864を使用したAPD用の高度RSSI較正
チュートリアル 4075 DS1864の電流DACを電圧DACとして使う方法
アプリケーションノート 3953 Side-by-Side Comparison of Fiber-Monitoring and Control ICs