MAX5233

3V/5V、10ビット、シリアル電圧出力、リファレンス内蔵デュアルDAC


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説明

低電力、デュアル10ビット、電圧出力、ディジタル-アナログコンバータ(DAC)のMAX5232/MAX5233は、10ppm/℃の高精度バンドギャップ電圧リファレンスと高精度出力アンプを内蔵しています。MAX5233は、5Vの単一電源で動作し、2.465Vのリファレンスを内蔵しており、フルスケール出力範囲が4.092Vです。MAX5232は、3Vの単一電源で動作し、1.234Vのリファレンスを内蔵しており、フルスケール出力範囲が2.046Vです。MAX5233の消費電流はわずか470µAで、MAX5232の消費電流はわずか420µAです。両デバイスとも、低電力(2µA)のソフトウェアおよびハードウェアイネーブルのシャットダウンモードを備えています。

MAX5232/MAX5233は、13.5MHzのSPI™、QSPI™、およびMICROWIRE™対応の3線式シリアルインタフェースを備えています。また、データ出力(DOUT)の追加によって、デイジーチェーンとリードバックが可能です。各DACは、ダブルバッファディジタル入力を備えています。MAX5232/MAX5233では、1kΩまたは200kΩの2つのシャットダウン出力インピーダンスをソフトウェアによって選択することができます。パワーアップリセット機能では、DAC出力がグランドまたはミッドスケールコードに設定されます。

MAX5232/MAX5233は、拡張温度範囲(-40℃ ~+85℃)で動作が保証されており、16ピンQSOPパッケージで提供されます。
MAX5232、MAX5233:ファンクションダイアグラム MAX5232、MAX5233:ファンクションダイアグラム 拡大表示+

主な特長

  • 10ppm/℃高精度バンドキャップリファレンス内蔵
    • 2.465V (MAX5233)
    • 1.234V (MAX5232)
  • 単一電源動作
    • 5V (MAX5233)
    • 3V (MAX5232)
    • 低消費電流
      • 470µA (MAX5233)
      • 420µA (MAX5232)
    • 13.5MHz SPI/QSPI/MICROWIRE対応の3線式シリアルインタフェース
    • パワーアップリセット状態をゼロまたはミッドスケール出力電圧にピン設定可能
    • 1kΩまたは200kΩ内部出力負荷によるプログラマブルシャットダウンモード
    • シャットダウンまたはリセット前に出力状態を呼出し
    • 5kΩ || 100pF負荷を駆動可能なバッファ出力
    • 省スペース16ピンQSOPパッケージ

アプリケーション/用途

  • µP制御システム
  • 自動試験装置(ATE)
  • デジタルオフセットおよび利得調整
  • 産業用プロセス制御
  • 動作制御
Part NumberResolution
(bits)
ChannelsOutput TypeReferenceINL
(±LSB)
InterfaceSupply Range
(V)
Supply Range
(V)
ICC
(mA)
Settling Time
(µs)
Package/PinsOper. Temp.
(°C)
Budgetary
Price
maxminmaxmaxtypSee Notes
MAX5232 102Voltage- BufferedInt.0.5Serial - SPI2.73.60.47510
QSOP/16
-40 to +85$4.33 @1k
MAX5233 4.55.50.525
QSOP/16
$4.38 @500
全Precision DACs (249)
価格についての注:
このページに掲載された価格は、類似製品と比較するための参考価格です。価格は米国ドルで表記されており変更されることがあります。購入数によって価格は大幅に変わることがあり、米国以外での価格は各地域の関税、税金、手数料、および為替レートによって異なることがあります。購入数やバージョンが確定されている場合の価格および在庫状況については、購入に関するページを参照いただくか正規代理店までお問い合わせください。

技術資料

アプリケーションノート 3947 SPIデバイスのデイジーチェーン接続

品質および環境データ

信頼性レポートをリクエスト: MAX5233 
鉛フリーパッケージの錫(Sn)のウィスカレポート
デバイス   ウェハープロセス   プロセス技術   サンプルサイズ   不合格   FIT (25°C)   FIT (55°C)  

注: 不良率はプロセス技術ごとにまとめられ、関連する型番にマッピングされます。 不良率はテストされたユニット数に大きく依存します。

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アプリケーションノート 3947 SPIデバイスのデイジーチェーン接続