MAX5419

256タップ、不揮発性、I²Cインタフェース、デジタルポテンショメータ

業界最小256タップデジタルポテンショメータ、3mm x 3mmのTDFNパッケージ


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説明

不揮発性、リニアテーパ、ディジタルポテンショメータのMAX5417/MAX5418/MAX5419は、機械的操作を簡単な2線式ディジタルインタフェースで置き換えることで、メカ式ポテンショメータと同じ働きをし、そして複数のデバイスと通信することができます。各製品は、ディスクリートなポテンショメータや可変抵抗器と同じ機能を持ち、256のタップポイントを備えています。

これらの製品は、電源投入の初期化時に復帰させるワイパ位置を記憶するための不揮発性EEPROMを内蔵しています。高速モードI²C対応のシリアルインタフェースは、最高400kbpsのデータレートの通信が可能で、多くのアプリケーションで基板スペースを最小限に抑えて複雑な相互接続を簡素化することができます。各製品は、4種類の出荷時設定のアドレスを提供可能で(フルデータシートの「型番/選択ガイド」参照)、また全部で8つの固有アドレスの組合せを可能にする1つのアドレス入力も備えています。

MAX5417/MAX5418/MAX5419は、50kΩ (MAX5417)、100kΩ (MAX5418)、または200kΩ (MAX5419)の3つの公称抵抗値を提供します。公称の抵抗器温度係数は、全抵抗で35ppm/℃、レシオメトリックでわずか5ppm/℃です。このため、これらの製品は低ドリフトのプログラマブルゲインアンプ回路構成など、低温度係数可変抵抗器を必要とするアプリケーションに最適です。

MAX5417/MAX5418/MAX5419は、3mm x 3mmの8ピンTDFNパッケージで提供され、-40℃~+85℃の拡張温度範囲で動作が保証されています。
MAX5417、MAX5417L、MAX5417M、MAX5417N、MAX5417P、MAX5418、MAX5419:ファンクションダイアグラム MAX5417、MAX5417L、MAX5417M、MAX5417N、MAX5417P、MAX5418、MAX5419:ファンクションダイアグラム 拡大表示+

主な特長

  • 電源オン時に不揮発性メモリからワイパー位置を再現
  • 小型3mm x 3mmの8ピンTDFNパッケージ
  • 全抵抗温度係数:35ppm/℃
  • 抵抗比温度係数:5ppm/℃
  • 抵抗値:50kΩ/100kΩ/200kΩ
  • 高速I²C対応シリアルインタフェース
  • 自己消費電流:500nA (typ)
  • 単一電源動作:+2.7V~+5.25V
  • タップ位置数:256
  • 分圧器モードにおけるDNL:±0.5 LSB
  • 分圧器モードにおけるINL:±0.5 LSB
  • EVキット入手可能

アプリケーション/用途

  • 液晶ディスプレイ(LCD)コントラスト制御
  • 低ドリフトプログラム可能な利得アンプ
  • メカニカルポテンショメータ置換品
  • 音量調整

スペックパラメータを参照する: Digital Potentiometers (117)


Part NumberTaperPOTsControl InterfaceWiper MemoryStepsREND-TO-END
(kΩ)
Temp. Coeff.
(ppm/°C)
Wiper Resistance
(Ω)
ICC @5V
(µA)
Package/PinsBudgetary
Price
(typ)(typ)(max)(See Notes)
MAX5417 Linear12-Wire SerialNon-Volatile25650503251
TDFN/8
$2.08 @1k
MAX5418 100
TDFN/8
$2.07 @1k
MAX5419 200
TDFN/8
$2.07 @1k

価格についての注:
このページに掲載された価格は、類似製品と比較するための参考価格です。価格は米国ドルで表記されており変更されることがあります。購入数によって価格は大幅に変わることがあり、米国以外での価格は各地域の関税、税金、手数料、および為替レートによって異なることがあります。購入数やバージョンが確定されている場合の価格および在庫状況については、購入に関するページを参照いただくか正規代理店までお問い合わせください。

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製品の信頼性レポート: MAX5419.pdf 
デバイス   ウェハープロセス   プロセス技術   サンプルサイズ   不合格   FIT (25°C)   FIT (55°C)   Material Composition  

注: 不良率はプロセス技術ごとにまとめられ、関連する型番にマッピングされます。 不良率はテストされたユニット数に大きく依存します。

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