DS1862

XFPレーザ制御およびデジタル診断IC

デジタル診断、シリアルID、およびユーザメモリのXFP MSA規格に準拠、レーザ制御および10Gbpsの光トランシーバモジュール(XFP)監視を実現


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説明

DS1862は、XFP MSA用に設計されたディジタル診断を内蔵する閉ループのレーザドライバ制御用ICです。レーザ制御機能は自動パワー制御(APC)を採用し、温度指標付きルックアップテーブル(LUT)によって消光比を制御します。DS1862は、温度やモニタダイオード(MD)電流などの最大7個のアナログ入力を監視します。これらの入力を使って、レーザバイアス電流と消光比を制御することができます。監視対象の信号が許容値を上回ると割込みを生成するように、警告/警報スレッショルドを設定することができます。また、監視対象のアナログ信号ごとに独立したゲインおよびオフセットのスケーリングレジスタによるキャリブレーションも提供します。設定されたキャリブレーションデータなどの設定値はパスワード保護されたEEPROMメモリに保存されます。設定はI²C対応インタフェースを通じて行われ、このインタフェースを使って診断機能にアクセスすることもできます。
DS1862:標準動作回路 DS1862:標準動作回路 拡大表示+

主な特長

  • ディジタル診断、シリアルID、およびユーザメモリのXFP MSA規格に準拠
  • I²C対応シリアルインタフェース
  • 自動パワー制御(APC)
  • ルックアップテーブルによる消光比制御
  • ディジタル診断用の7個の監視対象チャネル(5個の基本チャネルおよび2個の補助チャネル)
  • 監視対象チャネルの内部キャリブレーション(温度、VCC2/3、バイアス電流、および送受信パワー)
  • アイセーフティに配慮してレーザをオフするプログラマブルな高速トリップロジック
  • 監視およびID情報にアクセス可能
  • プログラマブルな警報/警告スレッショルド
  • 3.3Vまたは5V電源で動作
  • 5mm x 5mmの25ピンCSBGAパッケージ
  • 内部/外部温度センサ
  • 動作温度範囲:-40℃~+100℃
  • 1個の8ビットバッファDAC

アプリケーション/用途

  • 10Gbps光トランシーバモジュール(XFP)
  • 光伝送のデジタル診断
  • レーザ制御および監視
製品の信頼性レポート: DS1862.pdf 
デバイス   ウェハープロセス   プロセス技術   サンプルサイズ   不合格   FIT (25°C)   FIT (55°C)   Material Composition  

注: 不良率はプロセス技術ごとにまとめられ、関連する型番にマッピングされます。 不良率はテストされたユニット数に大きく依存します。

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