DS1858

3つのモニタ付き、デュアル温度制御の抵抗器

業界初、SFF/SFP光モジュール用、高集積コントローラモニタ


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説明

3つのモニタ付きデュアル温度制御不揮発性(NV)可変抵抗器のDS1858は、50kΩの256ポジションリニア可変抵抗器2個、3つのアナログモニタ入力(MON1、MON2、MON3)、およびダイレクトディジタル変換の温度センサ1個で構成されています。このデバイスは、制御アプリケーションにおける温度補償されたバイアス電圧とバイアス電流の設定を最小限の回路で実現する理想的な方法を提供します。可変抵抗器の設定値は、EEPROMメモリに保存され、2線式シリアルバスでアクセスできます。
DS1858:標準動作回路 DS1858:標準動作回路 拡大表示+

主な特長

  • 全部で5つのモニタチャネル(温度、VCC、MON1、MON2、MON3)
  • 3個の外部アナログ入力(MON1、MON2、MON3)
  • 内部ダイレクトディジタル変換の 温度センサ
  • 2個の50kΩ、リニア、256ポジション、不揮発性温度制御可変抵抗器
  • 2℃刻みで変更可能な抵抗器の設定値
  • 個々のデバイスアドレスを用いて設定可能なモニタリングとID情報へのアクセス
  • 2線式シリアルインタフェース
  • TTL/CMOS互換入力とオープンドレイン出力を備えた2個のバッファ
  • 3.3Vまたは5V電源で動作
  • SFF-8472準拠

アプリケーション/用途

  • 診断用モニタ
  • 計測および産業用制御
  • 光トランシーバ
  • 光トランスポンダ
  • RFパワーアンプ
Part NumberADCsResolution
(bits)
DACs/ ResistorsFS Out
(kΩ)
StepsTemp. SensorMemoryVSUPPLY
(V)
Control InterfacePackage/PinsBudgetary
Price
See Notes
DS1858 5-Input Muxable122 Resistors50kohms256InternalEEPROM
3.3
5
2-Wire
CSBGA/16
TSSOP/16
$2.80 @1k
全Fiber Monitoring and Control (19)
価格についての注:
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技術資料

アプリケーションノート 3751 DS185XEVKITでファイルタブを用いてデバイスのプログラムを組む方法
アプリケーションノート 3481 Using the DS1859 with External EEPROM
アプリケーションノート 3427 レーザドライバMAX3735にディジタル制御抵抗器DS1859をインタフェース接続
リファレンス回路図 3376 HFRD-15.3:高周波SFPホストボード(RS-232からI²Cへの変換機能を内蔵)
アプリケーションノート 3317 Adding Windows NT/2000/XP Support to the AN3315 Parallel-Port 2-Wire Software
アプリケーションノート 3315 C (言語)でパラレルポートの2線式ソフトウェアを書く
アプリケーションノート 2858 DS1859の内部キャリブレーションと右シフト処理(スケーラブルダイナミックレンジ)
アプリケーションノート 1937 HFAN-02.3.3: Optimizing the Resolution of Laser Driver Current Settings Using a Linear Digital Potentiometer
アプリケーションノート 1922 Calculator Converts Analog Signals to Digital Format for Optical SFF-8472 Standard
アプリケーションノート 228 How to Interpret DS1854, DS1857, and DS1858 Temperature and Voltage Readings
アプリケーションノート 210 Meet SFF-8472 Resolution and Accuracy Goals with Internal Calibration
アプリケーションノート 174 Monitor Calibration in Fiber Optic Applications

品質および環境データ

製品の信頼性レポート: DS1858.pdf 
鉛フリーパッケージの錫(Sn)のウィスカレポート

その他リソース

評価キット:DS185XEVKIT

CAD Symbols and Footprints

  • DS1858B-050
  • DS1858B-050+
  • DS1858E-050
  • DS1858E-050+
  • デバイス   ウェハープロセス   プロセス技術   サンプルサイズ   不合格   FIT (25°C)   FIT (55°C)  

    注: 不良率はプロセス技術ごとにまとめられ、関連する型番にマッピングされます。 不良率はテストされたユニット数に大きく依存します。

    品質管理システム >
    環境管理システム >

     
    Status:
    Package:
    Temperature:

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