DS1855

デュアル不揮発性デジタルポテンショメータおよびセキュアメモリ


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説明

デュアル不揮発性(NV)デジタルポテンショメータおよびセキュアメモリのDS1855は、1つの100ポジションリニアテーパポテンショメータ、1つの256ポジションリニアテーパポテンショメータ、256バイトのEEPROMメモリ、および2線式インタフェースで構成されています。新しいソフトウェア書込み保護機能を備えたDS1855は、DS1845のアップグレード版です。DS1855は、制御アプリケーションにおけるバイアス電圧とバイアス電流の設定を最小限の回路で実現する理想的な方法を提供します。EEPROMメモリによって、特定システムやデバイスに関する設定データとキャリブレーションデータを保存することができ、同様にポテンショメータのワイパ設定を制御することができます。どんな種類のユーザー情報も、このメモリの最初の248バイトに保存できます。EEPROMメモリの次の2つのアドレスはポテンショメータの設定値用で、残り6バイトのメモリは予備です。これらの予備レジスタとポテンショメータレジスタは、データの保存に使用できません。このEEPROMへのアクセスには、業界標準の2線式バスを用います。インタフェースのI/Oピンは、SDAとSCLから成ります。DS1855のワイパ位置は、EEPROMデータと同様、書込み保護入力ピン(WP)を用いたハードウェア書込み保護か、2線式インタフェースを用いてソフトウェアにより書込み保護されます。

DS1855:ブロックダイアグラム DS1855:ブロックダイアグラム 拡大表示+

主な特長

  • 2つのリニアテーパポテンショメータ
    • DS1855-010 (1個の10kΩ 、100ポジション、および1個の10kΩ、256ポジション)
    • DS1855-020 (1個の10kΩ 、100ポジション、および1個の20kΩ、256ポジション)
    • DS1855-050 (1個の10kΩ 、100ポジション、および1個の50kΩ、256ポジション)
    • DS1855-100 (1個の10kΩ 、100ポジション、および1個の100kΩ、256ポジション)
  • 256バイトのEEPROMメモリ
  • 2線式インタフェースで、データとポテンショメータ制御にアクセス
  • データとポテンショメータ設定値を保護する外部書込み保護ピン
  • データとポテンショメータ設定値もソフトウェア制御により書込み保護可能
  • ワイパ位置の保存(不揮発性)
  • 3Vまたは5Vの電源で動作
  • パッケージ:14ピンTSSOP、16ピンCSBGA、および14ピンフリップチップ
  • 工業用動作温度:-40℃~+85℃

アプリケーション/用途

  • 自動試験装置(ATE)
  • 携帯電話
  • 民生用オーディオ
  • コードレス電話
  • デジタルスチルカメラ
  • デジタルテレビ(レシーバ、セットトップボックス)
  • 産業用センサ・トランスミッタ/トランスデューサ
  • 産業用センサ・トランスミッタ/トランスデューサ
  • LCDディスプレイおよびパネル
  • ノートブックコンピュータ
  • パームトップ、ハンディターミナル(バーコードを含む)
  • ポータブル患者監視装置/ドラッグデリバリ
  • 試験および測定機器
Part NumberTaperPOTsControl InterfaceWiper MemoryStepsREND-TO-END
(kΩ)
Res. Tol.
(%)
Temp. Coeff.
(ppm/°C)
Wiper Resistance
(Ω)
ICC @5V
(µA)
Package/PinsBudgetary
Price
typtypmaxSee Notes
DS1855 Linear22-Wire AddressableNon-Volatile100+256
10+10
10+100
10+20
10+50
2075025060
CSBGA/16
TSSOP/14
$2.04 @1k
全Digital Potentiometers (120)
価格についての注:
このページに掲載された価格は、類似製品と比較するための参考価格です。価格は米国ドルで表記されており変更されることがあります。購入数によって価格は大幅に変わることがあり、米国以外での価格は各地域の関税、税金、手数料、および為替レートによって異なることがあります。購入数やバージョンが確定されている場合の価格および在庫状況については、購入に関するページを参照いただくか正規代理店までお問い合わせください。

CAD Symbols and Footprints

  • DS1855E-010+
  • DS1855E-010+T&R
  • DS1855E-050+
  • DS1855E-050+T&R
  • デバイス   ウェハープロセス   プロセス技術   サンプルサイズ   不合格   FIT (25°C)   FIT (55°C)  

    注: 不良率はプロセス技術ごとにまとめられ、関連する型番にマッピングされます。 不良率はテストされたユニット数に大きく依存します。

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