MX574A

業界標準、完全12ビットADC


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説明

The MAX174/MX574A/MX674A are complete 12-bit analog-to-digital converters (ADCs) that combine high speed, low-power consumption, and on-chip clock and voltage reference. The maximum conversion times are 8µs (MAX174), 15µs (MX674A), and 25µs (MX574A). Maxim’s BiCMOS construction reduces power dissipation 3 times (150mW) over comparable devices. The internal buried zener reference provides low-drift and low-noise performance. External component requirements are limited to only decoupling capacitors and fixed resistors. The versatile analog input structure allows for 0 to +10V or 0 to +20V unipolar or ±5V or ±10V bipolar input ranges with pin strapping.

The MAX174/MX574A/MX674A use standard microprocessor interface architectures and can be interfaced to 8-, 12-, and 16-bit wide buses. Three-state data outputs are controlled by active-low CS, CE, and R/active-low C logic inputs.

MAX174、MX574A、MX674A:ファンクションダイアグラム MAX174、MX574A、MX674A:ファンクションダイアグラム 拡大表示+

主な特長

  • Complete ADC with Reference and Clock
  • 12-Bit Resolution and Linearity
  • No Missing Codes Over Temperature
  • 150mW Power Dissipation
  • 8µs (MAX174), 15µs (MX674A), and 25µs (MX574A) Max Conversion Times
  • Precision Low TC Reference: 10ppm/°C
  • Monolithic BiCMOS Construction
  • 150ns Maximum Data Access Time

アプリケーション/用途

  • デジタル信号処理
  • 電子機械システム
  • 高精度プロセス制御
  • 高速データ収集

スペックパラメータを参照する: Precision ADCs (< 5Msps) (437)


Part NumberResolution
(bits)
Input Chan.Conv. Rate
(ksps)
ADC ArchitectureData BusDiff/S.E. InputInternal VREF
(V)
Unipolar VIN
(V)
Bipolar VIN
(±V)
INL
(±LSB)
Package/PinsBudgetary
Price
ADCmaxnominalmaxmaxSee Notes
MAX174 121125SARµP/12S.E. Only1020101
DICE SALES/N
PDIP/28
SOIC (W)/28
$41.85 @1k
MX574A 401
CDIP/28
PDIP/28
PLCC/28
SDBRZ/28
SOIC (W)/28
$17.78 @1k
MX674A 660.5
CDIP/28
DICE SALES/N
PDIP/28
PLCC/28
SOIC (W)/28
$29.68 @1k

価格についての注:
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製品の信頼性レポート: MX574A.pdf 
デバイス   ウェハープロセス   プロセス技術   サンプルサイズ   不合格   FIT (25°C)   FIT (55°C)   Material Composition  

注: 不良率はプロセス技術ごとにまとめられ、関連する型番にマッピングされます。 不良率はテストされたユニット数に大きく依存します。

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