MAX147

+2.7V、低電力、8チャネル、シリアル12ビットADC


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説明

MAX146/MAX147は、8チャネルマルチプレクサ、高帯域幅トラック/ホールドおよびシリアルインタフェースに高速変換および超低消費電流特性を加えた12ビットデータ収集システムです。MAX146は+2.7V~+3.6Vの単一電源で動作し、MAX147は+2.7V~+5.25Vの単一電源で動作します。どちらもアナログ入力はソフトウェアにより、ユニポーラ/バイポーラおよびシングルエンド/差動動作に設定できます。

4線式シリアルインタフェースは外部ロジック無しで直接SPI™/QSPI™およびMICROWIRE™機器に接続できます。シリアルストローブ出力により、TMS320ファミリのディジタル信号プロセッサに直接接続できます。MAX146/MAX147は内部クロックまたは外部シリアルインタフェースクロックを用いることで逐次比較型のアナログディジタル変換を行います。

MAX146は2.5Vリファレンスを内蔵し、MAX147は外部リファレンスを必要とします。どちらも電圧調整範囲±1.5%のレファレンスバッファアンプを備えています。

これらの製品はハードによる/SHDNピンおよびソフトウェア選択によるパワーダウン機能を備えており、変換の最後で自動的にシャットダウンするようにプログラムできます。MAX146/MAX147はシリアルインタフェースにアクセスすると自動的にパワーアップし、ターンオンが速いために全ての変換と変換の間にシャットダウンすることができます。このため、サンプリングレートが低い場合には消費電流を60µA以下に抑えることができます。

MAX146/MAX147は20ピンDIPおよびSSOPパッケージで提供されています。

これらの製品の4チャネルバージョンはMAX1246/MAX1247のデータシートを参照してください。
MAX146、MAX147:標準動作回路 MAX146、MAX147:標準動作回路 拡大表示+

主な特長

  • 入力:8チャネルシングルエンドまたは4チャネル差動
  • 単一電源動作:
    • 2.7V~+3.6V (MAX146)
    • 2.7V~+5.25V (MAX147)
  • 2.5Vリファレンス内蔵(MAX146)
  • 低電力:
    • 1.2mA (133ksps、3V電源)
    • 54µA (1ksps、3V電源)
    • 1µA (パワーダウンモード)
  • 4線式シリアルインタフェース:SPI/QSPI/MICROWIRE/TMS320コンパチブル
  • ユニポーラまたはバイポーラ入力:ソフトウェアで設定
  • パッケージ:20ピンDIP/SSOP

アプリケーション/用途

  • バッテリ駆動アプリケーション
  • データ収集
  • 医療用機器
  • ペンディジタイザ
  • ポータブルデータロギング
  • プロセス制御

Pricing Notes:
This pricing is BUDGETARY, for comparing similar parts. Prices are in U.S. dollars and subject to change. Quantity pricing may vary substantially and international prices may differ due to local duties, taxes, fees, and exchange rates. For volume-specific and version-specific prices and delivery, please see the price and availability page or contact an authorized distributor.

MAX146EVKIT: MAX146およびMAX147の評価キット/評価システム
MAX147EVKIT: MAX146およびMAX147の評価キット/評価システム

技術資料

アプリケーションノート 1108 Understanding Single-Ended, Pseudo-Differential and Fully-Differential ADC Inputs

ツールおよびモデル

  • Adjustment-Free Inclinometer
  • 製品の信頼性レポート: MAX147.pdf 
    デバイス   ウェハープロセス   プロセス技術   サンプルサイズ   不合格   FIT (25°C)   FIT (55°C)   Material Composition  

    注: 不良率はプロセス技術ごとにまとめられ、関連する型番にマッピングされます。 不良率はテストされたユニット数に大きく依存します。

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