MAX1437

シリアルLVDS出力付き、オクタル(8回路)、12ビット、50Msps、1.8V ADC


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説明

MAX1437はオクタル、12ビット、アナログ-ディジタルコンバータ(ADC)で、完全差動入力、パイプラインアーキテクチャ、およびディジタルエラー補正を備え、完全差動信号経路を内蔵しています。このADCは、医療用画像処理装置やディジタル通信アプリケーションにおける低電力、高ダイナミック性能に最適化されています。MAX1437は1.8Vの単一電源で動作し、消費電力はわずか768mW (チャネル当り96mW)ながら、5.3MHzの入力周波数で69.9dB (typ)の信号対ノイズ比(SNR)を実現します。MAX1437は低動作電力に加えて、アイドル時にパワーダウンモードになります。

1.24Vの高精度内部バンドギャップリファレンスによって、ADCのフルスケール範囲を設定します。リファレンス構造がフレキシブルであるため、高い精度や別の入力電圧範囲が必要なアプリケーション用に外部リファレンスを使用することができます。リファレンスアーキテクチャは低ノイズに最適化されています。

シングルエンドのクロックがデータ変換プロセスを制御します。内蔵デューティサイクルイコライザによって、クロックデューティサイクルの幅広い変動が補償されます。内蔵PLLは、高速シリアル低電圧差動信号(LVDS)クロックを生成します。

MAX1437は、データ、クロック、およびフレームアライメント信号に対して自動調整されたシリアルLVDSを出力します。出力データは、2の補数またはバイナリ形式で提供されます。

MAX1437は50Mspsの最大サンプルレートを備えています。高速および低速バージョンについてはフルデータシートの「ピンコンパチブルバージョン」をご覧ください。このデバイスは14mm x 14mm x 1mmのエクスポーズドパッド付き小型100ピンTQFPパッケージで提供され、工業用拡張温度範囲(-40℃~+85℃)での動作が保証されています。
MAX1437:ファンクションダイアグラム MAX1437:ファンクションダイアグラム 拡大表示+

主な特長

  • 優れたダイナミック性能
    • 69.9dB SNR (5.3MHzにおいて)
    • 96dBc SFDR (5.3MHzにおいて)
    • チャネルアイソレーション:95dB
  • 超低電力
    • チャネル当り96mW (通常動作)
  • シリアルLVDS出力
  • ピンで選択可能なLVDS/SLVS (スケーラブル低電圧信号)モード
  • LVDS出力は最大30インチのFR-4バックプレーン接続をサポート
  • ディジタル信号の完全性確認用テストモード
  • 完全差動アナログ入力
  • 広い差動入力電圧範囲:1.4VP-P
  • 1.24Vの高精度バンドギャップリファレンス内蔵
  • クロックデューティサイクルイコライザ
  • エクスポーズドパッド付き小型100ピンTQFPパッケージ
  • 評価キットを提供(MAX1437EVKITを注文してください)

アプリケーション/用途

  • 計測
  • マルチチャネル通信
  • 超音波および医療用画像化
Part NumberInput Chan.Resolution
(bits)
Sample Rate
(Msps)
AC Specs
(MHz)
SFDR
(dBc)
ENOB
(bits)
SINAD
(dB)
SNR
(dB)
THD
(dB)
DNL
(±LSB)
INL
(±LSB)
Full Pwr. BW
(MHz)
ICC
(mA)
Data Bus InterfacePackage/PinsBudgetary
Price
max ≥@ fINminminmintypSee Notes
MAX1437 8125019.39011.369.769.7-9012.5100427Serial LVDS
TQFP/100
$76.78 @1k
全High-Speed ADCs (> 5Msps) (53)
価格についての注:
このページに掲載された価格は、類似製品と比較するための参考価格です。価格は米国ドルで表記されており変更されることがあります。購入数によって価格は大幅に変わることがあり、米国以外での価格は各地域の関税、税金、手数料、および為替レートによって異なることがあります。購入数やバージョンが確定されている場合の価格および在庫状況については、購入に関するページを参照いただくか正規代理店までお問い合わせください。


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CAD Symbols and Footprints

  • MAX1437BETK+
  • MAX1437BETK+T
  • MAX1437ECQ+D
  • MAX1437ECQ+TD
  • MAX1437ECQ-D
  • MAX1437ECQ-TD
  • デバイス   ウェハープロセス   プロセス技術   サンプルサイズ   不合格   FIT (25°C)   FIT (55°C)  

    注: 不良率はプロセス技術ごとにまとめられ、関連する型番にマッピングされます。 不良率はテストされたユニット数に大きく依存します。

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