MAX1295

+2.5Vリファレンスおよびパラレルインタフェース付き、265ksps、+3V、6/2チャネル、12ビットADC

超小型、低電力、パラレル出力12ビットADC


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説明

MAX1295/MAX1297は、逐次比較ADC、自動パワーダウン、高速ウェイクアップ(2µs)、内蔵クロック、+2.5V内部リファレンスおよび高速12ビットパラレルインタフェースを備えた低電力12ビットアナログディジタルコンバータ(ADC)です。これらの製品は、単一+2.7~+3.6Vアナログ電源で動作します。

最大サンプリング速度265kspsにおける消費電力は僅か5.4mWです。2つのソフトウェア選択可能なパワーダウンモードにより、MAX1295/MAX1297は変換の合間にシャットダウンすることができます。パラレルインタフェースにアクセスすると通常動作に戻ります。変換の合間にパワーダウンすることにより、低サンプリング速度における消費電流を10µA以下に低減できます。

いずれの素子も、アナログ入力はユニポーラ/バイポーラおよびシングルエンド/疑似差動動作をソフトウェアで設定できるようになっています。シングルエンドモードにおいて、MAX1295は6つの入力チャネル、MAX1297は2つの入力チャネルを持っています(疑似差動モードにおいてはそれぞれ3つおよび1つの入力チャネル)。

本製品は、優れた動的性能および低電力特性に加え、パッケージが小型で使い易く、バッテリ駆動およびデータ収集アプリケーション、あるいはその他の省電力、小型化が必要な回路に最適です。

MAX1295/MAX1297はアクティブローCSがハイになるとアクティブローINTをトライステートにします。アクティブローINTをトライステートにしたくない場合は、MAX1265/MAX1267を参照してください。

MAX1295は28ピンQSOPパッケージで提供されています。MAX1297は24ピンQSOPです。ピンコンパチブルな+5V、12ビットバージョンについては、MAX1294/MAX1296データシートを参照して下さい。

主な特長

  • 分解能:12ビット、直線性:±0.5 LSB
  • 電源:+3V単一
  • 内部+2.5Vリファレンス
  • ソフトウェア設定可能なアナログ入力マルチプレクサ
    • 6チャネルシングルエンド/3チャネル疑似差動(MAX1295)
    • 2チャネルシングルエンド/1チャネル疑似差動(MAX1297)
  • ユニポーラ/バイポーラアナログ入力をソフトウェア設定可能
  • 低電流:
    • 1.9mA (265ksps)
    • 1.0mA (100ksps)
    • 400µA (10ksps)
    • 2µA (シャットダウン)
  • フルパワー帯域幅が3MHzの内部トラック/ホールド
  • パラレル12ビットインタフェース
  • 小面積:
    • 28ピンQSOP (MAX1295)
    • 24ピンQSOP (MAX1297)

アプリケーション/用途

  • データ収集システム
  • データロギング
  • エネルギー管理
  • 産業用制御システム
  • 患者監視
  • タッチスクリーン
Part NumberResolution
(bits)
Input Chan.Conv. Rate
(ksps)
ADC ArchitectureData BusDiff/S.E. InputInternal VREF
(V)
External VREF
(V)
External VREF
(V)
Unipolar VIN
(V)
Bipolar VIN
(±V)
THD
(dB)
INL
(±LSB)
Package/PinsBudgetary
Price
ADCmaxnominalminmaxmaxmaxSee Notes
MAX1295 126265SARµP/12Both2.513.62.51.25-781
QSOP/28
$8.86 @1k
MAX1297 2
QSOP/24
$10.58 @500
全Precision ADCs (< 5Msps) (444)
価格についての注:
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品質および環境データ

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鉛フリーパッケージの錫(Sn)のウィスカレポート

CAD Symbols and Footprints

  • MAX1295ACEI+
  • MAX1295AEEI+
  • MAX1295BCEI+
  • MAX1295BCEI+T
  • MAX1295BEEI+
  • MAX1295BEEI+T
  • デバイス   ウェハープロセス   プロセス技術   サンプルサイズ   不合格   FIT (25°C)   FIT (55°C)  

    注: 不良率はプロセス技術ごとにまとめられ、関連する型番にマッピングされます。 不良率はテストされたユニット数に大きく依存します。

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