MAX1245

+2.375V、低電力、8チャネル、シリアル12ビットADC

ポータブル2.5V 12ビットシステムに最適


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説明

MAX1245は、8チャネルマルチプレクサ、高帯域幅トラック/ホールド、およびシリアルインタフェースに高度変換および超低消費電流特性を加えた12ビットデータ収集システムです。+2.375V~+3.3Vの単一電源で動作し、アナログ入力はソフトウェアにより、ユニポーラ/バイポーラおよびシングルエンド/差動動作に設定できます。

4線シリアルインタフェースは、外部ロジックを使用せずに直接SPI™、QSPI™およびMICROWIRE™機器に接続できます。シリアルストローブ出力により、TMS320ファミリのディジタル信号プロセッサに直接接続できます。MAX1245は外部リファレンスで動作し、内部クロックまたは外部シリアルインタフェースクロックを用いることで、逐次比較型のアナログディジタル変換を行います。

本製品は、ハード配線されたアクティブローSHDNピンおよびソフトウェア選択によるパワーダウン機能を備えており、また変換完了時に自動的にシャットダウンするように設定できます。MAX1245はシリアルインタフェースにアクセスするとパワーアップし、ターンオンが速いために変換と変換の間にシャットダウンすることができます。このため、サンプリングレートが低い場合には消費電流を10µA以下に抑えることができます。

MAX1245は20ピンDIPパッケージ、および8ピンDIPよりも30%小さいSSOPパッケージで供給されています。電源電圧+2.7V~5.25Vに対しては、ピンコンパチブルのMAX147を使用してください。
MAX1245:標準動作回路 MAX1245:標準動作回路 拡大表示+

主な特長

  • 電源:+2.375V~+3.3V単一
  • アナログ入力:8チャネルシングルエンドまたは4チャネル差動
  • 低電力:
    • 0.8mA (100ksps)
    • 10µA (1ksps)
    • 1µA (パワーダウンモード)
  • 内部トラック/ホールドサンプリングレート:100kHz
  • 4線シリアルインタフェース:SPI/QSPI/MICROWIRE/TMS320コンパチブル
  • ユニポーラまたはバイポーラ入力:ソフトウェアで設定
  • パッケージ:20ピンDIP/SSOP

アプリケーション/用途

  • バッテリ駆動アプリケーション
  • データ収集
  • 医療用機器
  • ポータブルデータロギング
Part NumberResolution
(bits)
Input Chan.Conv. Rate
(ksps)
ADC ArchitectureData BusDiff/S.E. InputInternal VREF
(V)
External VREF
(V)
External VREF
(V)
Unipolar VIN
(V)
Bipolar VIN
(±V)
SNR
(dB)
THD
(dB)
INL
(±LSB)
Package/PinsBudgetary
Price
ADCmaxnominalminmaxmaxmaxSee Notes
MAX1245 128100SARSPIBoth2.04813.32.0481.02470-761
PDIP/20
SSOP/20
$8.69 @1k
全Precision ADCs (< 5Msps) (464)
価格についての注:
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品質および環境データ

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鉛フリーパッケージの錫(Sn)のウィスカレポート

CAD Symbols and Footprints

  • MAX1245ACAP
  • MAX1245ACAP+
  • MAX1245ACAP+T
  • MAX1245ACAP-T
  • MAX1245ACPP
  • MAX1245ACPP+
  • MAX1245AEAP
  • MAX1245AEAP+
  • MAX1245AEAP+T
  • MAX1245AEAP-T
  • MAX1245AEPP
  • MAX1245AEPP+
  • MAX1245BCAP
  • MAX1245BCAP+
  • MAX1245BCAP+T
  • MAX1245BCAP-T
  • MAX1245BCPP
  • MAX1245BCPP+
  • MAX1245BEAP
  • MAX1245BEAP+
  • MAX1245BEAP+T
  • MAX1245BEAP-T
  • MAX1245BEPP
  • MAX1245BEPP+
  • デバイス   ウェハープロセス   プロセス技術   サンプルサイズ   不合格   FIT (25°C)   FIT (55°C)  

    注: 不良率はプロセス技術ごとにまとめられ、関連する型番にマッピングされます。 不良率はテストされたユニット数に大きく依存します。

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