MAX1240

+2.7V、低電力、12ビットシリアルADC、8ピンSO


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説明

MAX1240/MAX1241は、8ピンパッケージに収められた低電力、12ビットアナログ-ディジタルコンバータ(ADC)です。MAX1240は単一+2.7V~+3.6V電源で動作し、MAX1241は単一+2.7V~+5.25V電源で動作します。どちらのICも7.5µsの逐次比較ADC、高速トラック/ホールド(1.5µs)、クロックおよび高速3線シリアルインタフェースを備えています。

電力消費は、73kspsの最大サンプリング速度で僅か37mW (VDD = 3V)となっています。2µAシャットダウンモードにより、低スループットレート時の電力節減を実現しています。

MAX1240は2.5Vリファレンスを内蔵し、MAX1241は外部リファレンスを必要とします。MAX1241は、0V~VREFの信号を受け付け、リファレンス入力範囲は正電源電圧が含まれます。外部クロックが、3線インタフェースからデータにアクセスします。このインタフェースは、標準マイクロコントローラI/Oポートに直接接続しており、SPI™、QSPI™およびMICROWIRE™とコンパチブルです。

これらのコンバータは、優れたAC特性および超低電力特性に加えて、使いやすくパッケージが小型のため、リモートセンサおよびデータ収集アプリケーション、あるいはその他の省電力、小型化が必要な回路に最適です。MAX1240/MAX1241は、8ピンPDIPおよびSOパッケージで提供されています。
MAX1240、MAX1241:ファンクションダイアグラム MAX1240、MAX1241:ファンクションダイアグラム 拡大表示+

主な特長

  • 電源:
    • +2.7V~+3.6V単一(MAX1240)
    • +2.7V~+5.25V単一(MAX1241)
  • 分解能:12ビット
  • 2.5Vリファレンス内蔵(MAX1240)
  • 小型パッケージ:8ピンPDIP/SO
  • 低電力:
    • 3.7µW (73ksps、MAX1240)
    • 3mW (73ksps、MAX1241)
    • 66µW (1ksps、MAX1241)
    • 5µW (パワーダウンモード)
  • 内部トラック/ホールド
  • 3線シリアルインタフェース:SPI/QSPI/MICROWIRE
  • 内部クロック

アプリケーション/用途

  • バッテリ駆動アプリケーション
  • 計測
  • 絶縁型データ収集
  • ポータブルデータロギング
  • プロセス制御
Part NumberResolution
(bits)
Input Chan.Conv. Rate
(ksps)
ADC ArchitectureData BusDiff/S.E. InputInternal VREF
(V)
External VREF
(V)
External VREF
(V)
Unipolar VIN
(V)
SNR
(dB)
THD
(dB)
INL
(±LSB)
Package/PinsBudgetary
Price
ADCmaxnominalminmaxmaxSee Notes
MAX1240 12173SARSPIS.E. Only2.513.62.570-881
PDIP/8
SOIC (N)/8
$7.49 @1k
MAX1241 -5.25
PDIP/8
SOIC (N)/8
$5.45 @1k
全Precision ADCs (< 5Msps) (444)
価格についての注:
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MAX1240EVKIT: MAX1240/MAX1241の評価キット
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品質および環境データ

製品の信頼性レポート: MAX1240.pdf 
鉛フリーパッケージの錫(Sn)のウィスカレポート

CAD Symbols and Footprints

  • MAX1240ACPA+
  • MAX1240ACSA+
  • MAX1240ACSA+T
  • MAX1240AEPA+
  • MAX1240AESA+
  • MAX1240AESA+T
  • MAX1240AESA/V+
  • MAX1240AESA/V+T
  • MAX1240BCSA+
  • MAX1240BEPA+
  • MAX1240BESA+
  • MAX1240BESA+T
  • MAX1240BESA/V+
  • MAX1240BESA/V+T
  • MAX1240CCSA+
  • MAX1240CESA+
  • デバイス   ウェハープロセス   プロセス技術   サンプルサイズ   不合格   FIT (25°C)   FIT (55°C)  

    注: 不良率はプロセス技術ごとにまとめられ、関連する型番にマッピングされます。 不良率はテストされたユニット数に大きく依存します。

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