MAX1211

65Msps、12ビット、IFサンプリングADC


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説明

MAX1211は3.3V、12ビット、アナログ-ディジタルコンバータ(ADC)で、完全差動広帯域トラック/ホールド(T/H)入力を備え、内蔵量子化器を駆動します。MAX1211は、中間周波数(IF)サンプリングアプリケーションにおける低電力、小型サイズ、および高ダイナミック性能に最適化されています。このADCは3.0V~3.6Vの単一電源で動作し、消費電力はわずか340mWですが、信号対ノイズ比(SN比)性能は175MHz入力周波数で66.8dB (typ)です。T/H駆動の入力段は、シングルエンド入力または差動入力です。MAX1211は低動作電力に加えて、0.15mWのパワーダウンモードを備えているため、アイドル期間時に節電することができます。

MAX1211は、リファレンス構造がフレキシブルなため、内蔵の高精度バンドギャップリファレンスを利用したり、外部印加リファレンスを利用することができます。コモンモードリファレンスが提供されているため、差動アナログ入力回路において、設計がシンプルになり、外付け部品点数が減少します。

MAX1211は、シングルエンドおよび差動入力クロック駆動の両方をサポートします。クロックデューティサイクルの広範囲変動は、ADCの内蔵デューティサイクルイコライザで補償されます。

MAX1211は、パラレルの、CMOS対応出力を備えています。ディジタル出力フォーマットは、2の補数またはグレイコードをピンで選択することができます。データ有効インジケータによって、信頼性のあるディジタルインタフェースに通常必要な外付け部品が不要になります。ディジタル出力用の別個の電源入力は1.7V~3.6Vの電圧を受け入れ、各種ロジックレベルとフレキシブルにインタフェースすることができます。MAX1211は6mm x 6mm x 0.8mmのエクスポーズドパドル(EP)付40ピンTQFNパッケージで提供され、-40℃~+85℃の拡張温度範囲での動作が保証されています。

ピンコンパチブル、12/14ビット高速ADCファミリの全リストは、パラメトリック表を参照してください(English only)。
MAX1211:ファンクションダイアグラム MAX1211:ファンクションダイアグラム 拡大表示+

主な特長

  • 直接IFサンプリング:最高400MHz
  • 入力帯域幅:700MHz
  • 卓越したダイナミック性能
    • 66.8dB SN比(fIN = 175MHz時)
    • 79.7dBc SFDR (fIN = 175MHz時)
  • 低電力動作:3.3V
    • 314mW (シングルエンドクロックモード時)
    • 340mW (差動クロックモード時)
  • 差動またはシングルエンドクロック
  • 20%~80%デューティサイクルのクロックを受け入れ
  • 完全差動またはシングルエンドアナログ入力
  • 可変フルスケールアナログ入力範囲
  • コモンモードリファレンス
  • パワーダウンモード
  • 2の補数またはグレイコードのCMOS対応出力
  • データ有効インジケータがディジタルインタフェースを簡素化
  • 範囲外インジケータ
  • エクスポーズドパドル付小型40ピンTQFNパッケージ
  • 評価キット入手可能(MAX1211EVKITを請求してください)

アプリケーション/用途

  • セルラ、LMDS、ポイント間マイクロ波、MMDS、HFC、WLAN
  • IFおよびベースバンド通信レシーバ:セルラ、ポイント間マイクロ波、HFC、WLAN
  • 低電力データ収集
  • MMDS、HFC、WLAN
  • ポータブル計測機器
  • 超音波および医療用画像化
Part NumberInput Chan.Resolution
(bits)
Sample Rate
(Msps)
AC Specs
(MHz)
SFDR
(dBc)
SINAD
(dB)
SNR
(dB)
THD
(dB)
DNL
(±LSB)
INL
(±LSB)
Full Pwr. BW
(MHz)
Package/Pins
max ≥@ fINminmin
MAX1211 1126517579.766.566.8-78.70.30.3700
TQFN/40
全High-Speed ADCs (> 5Msps) (61)
価格についての注:
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MAX1211EVKIT: MAX1211、 MAX1206、MAX1207、MAX1208、MAX1209、およびMAX19538の評価キット

CAD Symbols and Footprints

  • MAX1211ETL+
  • MAX1211ETL+T
  • デバイス   ウェハープロセス   プロセス技術   サンプルサイズ   不合格   FIT (25°C)   FIT (55°C)  

    注: 不良率はプロセス技術ごとにまとめられ、関連する型番にマッピングされます。 不良率はテストされたユニット数に大きく依存します。

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