MAX11903

18ビット、1.6Msps、低電力、完全差動SAR ADC

高速で低電力の18ビットSAR ADC


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説明

MAX11903は、基準電圧バッファ内蔵の18ビット、1.6Msps、シングルチャネル、完全差動SAR ADCです。MAX11903は、スループットに直接比例するクラス最低の消費電力をもち、優れた静的および動的性能を発揮します。このデバイスは、ユニポーラ差動±VREF入力範囲を備えています。供給電源は、基準電圧バッファ用3.3V電源、1.8Vアナログ電源、1.8Vデジタル電源、1.5V~3.6Vデジタルインタフェース電源が含まれます。

このADCは98dBのSN比と-123dBのTHDを達成し、18ビットの分解能でミッシングコードなし、2 LSBのINL (max)を保証します。

MAX11903は、SPI対応のシリアルインタフェースを使用してデータ通信を行います。MAX11903は、20ピンTQFNパッケージ(4mm x 4mm)で提供され、-40℃~+85℃の動作温度範囲が保証されています。

MAX11903:アプリケーションダイアグラム MAX11903:アプリケーションダイアグラム 拡大表示+

主な特長

  • 高いDC/AC精度によってより良い測定品質を提供
    • 分解能:18ビット、ミッシングコードなし
    • INL ±2 LSBおよびDNL ±0.5 LSB (18ビットでの最大値)
    • SN比98.0dBおよびSINAD 97.8dB (fIN = 10kHz時)
    • THD:-123dB (fIN = 10kHz時)
  • 高サンプリングレートSARアーキテクチャによって高速セトリングおよびアクイジションを実現
    • スループット:1.6Msps、パイプライン遅延なし
  • 高集積によって設計を簡素化
    • リファレンスバッファ内蔵、VREF = 2.5V~3.6V
    • ユニポーラ差動アナログ入力範囲:±VREF
  • スケーラブルな超低電力によって消費電力を削減
    • 9mW (1.6Msps時)
  • 柔軟な低電圧電源によってコストを削減
    • アナログおよびデジタルコア電源:1.8V
    • デジタルインタフェース電源:1.5V~3.6V
    • REFVDDリファレンスバッファ電源:3.3V
  • 柔軟な、業界標準シリアルインタフェースと小型パッケージによって小型化
    • SPI/QSPI/MICROWIRE®/DSP対応
    • 20ピンTQFNパッケージ(4mm x 4mm)

アプリケーション/用途

  • 自動試験装置
  • バッテリ駆動機器
  • データ収集システム
  • 医療用計測
  • プロセス制御および産業用オートメーション
  • テレコム
  • 試験および測定

スペックパラメータを参照する: Precision ADCs (< 5Msps) (437)


Part NumberResolution
(bits)
Input Chan.Conv. Rate
(ksps)
ADC ArchitectureData BusDiff/S.E. InputExternal VREF
(V)
External VREF
(V)
Unipolar VIN
(V)
SNR
(dB)
THD
(dB)
INL
(±LSB)
Package/Pins
ADCmaxminmaxmax
MAX11903 1811600SAR
DSP-Compatible Serial
Microwire
QSPI
SPI
Diff. Only2.53.63.698.1-1231.5
TQFN/20

価格についての注:
このページに掲載された価格は、類似製品と比較するための参考価格です。価格は米国ドルで表記されており変更されることがあります。購入数によって価格は大幅に変わることがあり、米国以外での価格は各地域の関税、税金、手数料、および為替レートによって異なることがあります。購入数やバージョンが確定されている場合の価格および在庫状況については、購入に関するページを参照いただくか正規代理店までお問い合わせください。

MAX11905EVKIT: MAX11900、MAX11901、MAX11902、MAX11903、MAX11904、およびMAX11905の評価キット

ツールおよびモデル

  • MAX11900~5 IBISモデル
  • 製品の信頼性レポート: MAX11903.pdf 
    デバイス   ウェハープロセス   プロセス技術   サンプルサイズ   不合格   FIT (25°C)   FIT (55°C)   Material Composition  

    注: 不良率はプロセス技術ごとにまとめられ、関連する型番にマッピングされます。 不良率はテストされたユニット数に大きく依存します。

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    環境管理システム >

     
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